Scientific Equipment
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Venerdì 28 Agosto 2026
Schaefer SEE è lieta di annunciare la propria partecipazione, insieme al partner Izon Science, al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities, in programma il 3–4...
Domenica 23 Agosto 2026
Il G5 Ion Sputter Coater di GSEM è uno strumento di dimensioni contenute, semplice da utilizzare ed economico, per la preparazione dei campioni destinati all'analisi SEM...
Venerdì 07 Agosto 2026
Siamo lieti di presentare la nuova serie di video tutorial dedicati a TomoAnalysis, realizzata per aiutare gli utenti a sfruttare al meglio i dati di imaging acquisiti con i...
Lunedì 03 Agosto 2026
Martedì 21 Luglio 2026
Versatilità estesa...
Schaefer sarà presente con il proprio banco al workshop Science through Scanning Probe Microscopy 2013 (StSPM13) che si terrà a Bologna presso l'Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati (ISMN) del CNR (Area della Ricerca di Bologna), dal 12 al 13 Dicembre prossimo. L'evento "si...
Schaefer South East Europe offre uno sconto del dieci per cento su tutte le punte conduttive NaDia, realizzate interamente in diamante. Questa promozione include i seguenti modelli di punte: ND-DYCRS, ND-SSCR, ND-CTCT e ND-CTCR. Questo sconto è valido per tutti gli ordini ricevuti entro...
Schaefer lancia per il fine 2013 una promozione sugli accessori e sui consumabili AFM.
Sono previste promozioni anche sugli Spin Coater, sulla linea Teledyne e Group3.
La promozione è valida fino a fine 2013 e/o fino a esaurimento scorte.
PROMO CONSUMABILI...
Schaefer è lieta di annunciare che è in arrivo l'aggiunta di output lineari al lettore di vuoto digitale DAVC. Queste uscite includono: 0-5 VDC, 0-10 VDC, e 4-20 mA. Sono disponibili unità beta da subito. Se siete interessati a ricevere una unità di test e volete contribuire...
La serie EQS della Hiden di sonde a quadrupolo per spettrometria di massa è stata introdotta per la misurazione di ioni esterni superficiali in un ambiente in vuoto, in maniera specifica per l'applicazione di tecnica di analisi delle superfici, la SIMS. I sistemi ora possono contare sulla...