Il Blog di Schaefer

Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.

Ultime News

Mercoledì 04 Aprile 2012

La direzione della 16° Conferenza Internazionale sulle Pellicole e sulle Superfici solide, informa che il Programma e le decisione in merito agli abstract presentati sono disponibili sul sito web. Ogni autore riceverà una convocazione formale da EPS a breve. Si ricorda che il termin ultimo per l...

Lunedì 19 Marzo 2012

Esempio di misurazione con SmartWLI

Sono online le caratteristiche tecniche dei due sistemi SmartWLI distribuiti da Schaefer in tutta Europa. Il sistema di interferometria a luce bianca della GBS Ilmenau rappresenta la nuova frontiera nella caratterizzazione delle superfici, dalla convenienza assoluta per l'ottimo rapporto qualità...

Venerdì 16 Marzo 2012

SPIP6 - The best has just gotten better

SPIP™6 di Image Metrology, lo standard nell'elaborazione di immagini su scala nanometrica, è disponibile per il download, anche nella trial version.

Alcune delle principali nuove caratteristiche:

  • Interfaccia completamente basata su Ribbons
    Avrete a disposizione...

Lunedì 05 Marzo 2012

Smart WLI Basic & Extended

Abbiamo pubblicato, nella scheda dello SMartWLI family, il pdf con tutta la linea di produzione della GBS. Potrete così avere una prima idea delle funzionalità offerte da questi strumenti, macchine estremamente performanti e dalla convenienza imbattibile. L'interferometri a luce bianca...

Lunedì 27 Febbraio 2012

La data ultima utile di presentazione degli abstract per contribuire alla Conferenza Internazionale su Pellicole e Superfici Solide, ICSFS 16, che si terrà a Genova, Italia, tra il 1° e il 6 di Luglio 2012, è stata prorogata al 9 Marzo p.v., entro la mezzanotte.

Si precisa che è...

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