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Il nuovo Agilent AFM 7500 e il responsabile AppNano presenti a Bologna il 12 Dicembre 2013
Schaefer sarà presente con il proprio banco al workshop Science through Scanning Probe Microscopy 2013 (StSPM13) che si terrà a Bologna presso l'Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati (ISMN) del CNR (Area della Ricerca di Bologna), dal 12 al 13 Dicembre prossimo. L'evento "si propone come triennale meeting point italiano per microscopisti a scansione di sonda ed ha l'obiettivo di illustrare gli avanzamenti scientifici ottenuti in Italia grazie alle tecniche SPM".
Per l'occasione Schaefer presenterà il nuovo AFM della Agilent, il 7500. In allegato a questa news la scheda tecnica e due pdf di letteratura tecnico-scientifica riguardanti alcuni utilizzi dello strumento e le novità portate dal nuovo microscopio a forza atomica che si colloca ai vertici del catalogo del costruttore americano, e dell'intero mercato AFM.
Contestualmente sarà presente al nostro banco anche il distributore di punte AFM/SPM della Applied Nanostructures. Tutti i partecipanti al workshop potranno discutere e farsi consigliare le migliori punte in relazione alle applicazioni di utilizzo, e potranno fare richiesta di punte di valutazione gratuite e ricevere informazioni sul nuovo modulo SThM, di prossima uscita e di cui alleghiamo alcuni documenti di seguito.
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