Il Blog di Schaefer

Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.

Ultime News

Martedì 08 Agosto 2017

Enhanced Darkfield Hyperspectral Microscopy - Cytoviva at Nanosafety 2017

Microscopio iperspettrale in campo oscuro - Cytoviva a Nanosafety 2017

Cytoviva e Schaefer porteranno in visione il microscopio EDFM –HS (microscopio iperspettrale in campo oscuro) a “Nanosafety 2017”, evento organizzato dall'INM Leibniz Institute for New Materials, che si terrà dall'11 al 13 Ottobre...

Martedì 01 Agosto 2017

Smart WLI prime

Prova il profilometro interferometrico in luce bianca SmartWLI di GBS Ilmenau

Schaefer SEE srl ha il piacere di informare che il profilometro interferometrico in luce bianca mod. Smart WLI –prime è presente in demo nella sede operativa di Genova.

Per una ricostruzione 3D altamente accurata della superficie di campioni per lo studio...

Lunedì 24 Luglio 2017

Enhanced Darkfield Hyperspectral Microscopy - Cytoviva at Nanosafety 2017

Il microscopio ottico iperspettrale di Cytoviva utilizzato per studi di nanotossicologia

Jane Ma et al, Health Effects Laboratory Division, NIOSH, Morgantown, WV, United States, nel recente articolo pubblicato su "Toxicoloy and Applied Pharmacology" del 2017, evidenziano come l'esposizione a nanoparticelle di ossido di Cerio, usato come catalizzatore nei motori...

Lunedì 03 Luglio 2017

Workshop: State of the art in 3D Surface Metrology - Rovigo - July 26, 2017

PROGRAMMA FINALE - Workshop: Stato dell'arte della Metrologia di Superficie in 3D - Rovigo - 26 Luglio 2017

Schaefer South-East Europe Srl è lieta di annunciare lo svolgimento di un workshop sulla profilometria in 3D (Metrologia di Superficie in 3D),  in collaborazione con Sensofar, che si terrà alla fine di Luglio a Rovigo, dal titolo "State of the art in...

Martedì 20 Giugno 2017

High Definiton Kelvin Force Microscopy - BIMODAL HD-KFM

Microscopio a forza di sonda Kelvin Force ad elevata definizione: BIMODAL HD-KFM

La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in...

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