Scientific Equipment
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Domenica 23 Agosto 2026
Il G5 Ion Sputter Coater di GSEM è uno strumento di dimensioni contenute, semplice da utilizzare ed economico, per la preparazione dei campioni destinati all'analisi SEM...
Venerdì 07 Agosto 2026
Siamo lieti di presentare la nuova serie di video tutorial dedicati a TomoAnalysis, realizzata per aiutare gli utenti a sfruttare al meglio i dati di imaging acquisiti con i...
Lunedì 03 Agosto 2026
Martedì 21 Luglio 2026
Versatilità estesa...
Giovedì 09 Luglio 2026
Nell’analisi dei materiali, osservare la superficie di un campione è spesso solo il primo passo. Un SEM da banco consente ai laboratori di analizzare morfologia,...
Il 9 e 10 luglio Schaefer SEE sarà sponsor del Workshop "Biochimica dei Tumori", un importante appuntamento scientifico che riunisce ricercatori provenienti da università, IRCCS e centri di ricerca per discutere i più recenti progressi...
Molte tecniche analitiche richiedono diluizione, sollecitazioni meccaniche o una lunga preparazione del campione prima che questo possa essere misurato. Sebbene tali procedure possano semplificare l'analisi, possono anche...
Dal 25 al 30 giugno 2026, Schaefer Tec parteciperà a SELSIM 2026, la rinomata scuola e workshop internazionale sulla microscopia a sonda di scansione (SPM) che si terrà a Sondalo, in Italia. Insieme al nostro partner CS Instruments,...
Siamo lieti di annunciare la nostra partecipazione al workshop TE4DM – Tissue Engineering for Disease Modelling, che si terrà a Roma il 18 e 19 giugno ed è organizzato sotto gli auspici del Gruppo Nazionale di Bioingegneria (GNB).
Il workshop riunisce...
L'hardware ad alte prestazioni consente naturalmente di effettuare misure rapide. Nella serie smartWLI, tuttavia, la potenza di calcolo disponibile non viene sfruttata solo per aumentare la velocità, ma anche per valutare in modo specifico la qualità dei dati di misura. Di conseguenza, oltre ai...