Prova il profilometro interferometrico in luce bianca SmartWLI di GBS Ilmenau

Schaefer SEE srl ha il piacere di informare che il profilometro interferometrico in luce bianca mod. Smart WLI –prime è presente in demo nella sede operativa di Genova.

Per una ricostruzione 3D altamente accurata della superficie di campioni per lo studio di materiali, inclusi trasparenti o riflettenti, e per una valutazione della rugosità superficiale con risoluzione sub-nanometrica, i profilometri interferometrici in luce bianca Smart WLI proposti dalla tedesca GBS Ilmenau sono la migliore soluzione sul mercato per applicazioni R&D.

Cogli l’occasione: valuta le capacità risolutive e la rapidità di accesso all’informazione dello strumento, prenotando la tua sessione demo e/o inviando 1-2 campioni a

Dr.ssa Francesca Sbrana

Schaefer SEE srl
c/o IBF-CNR
via De Marini, 6
16149 Genova

email: francesca.sbrana@schaefer-tec.it
cell: 393 847 9592