Il diamante sintetico sta plasmando il futuro dell'energia rinnovabile e dell'elettronica di potenza.
Questa frase riassume perfettamente l'importanza di questo materiale rivoluzionario nelle tecnologie di nuova generazione.
Scientific EquipmentIl Blog di Schaefer
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Ultime News
-
Sabato 05 Settembre 2026
Schaefer SEE ad AITEM 2026: soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e la metrologia ottica 3D
Schaefer SEE Srl parteciperà ad AITeM 2026, presentando soluzioni avanzate per la caratterizzazione dei materiali, la microscopia elettronica e la metrologia delle...
Schaefer SEE ad AITEM 2026: soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e la metrologia ottica 3D -
Venerdì 28 Agosto 2026
Schaefer SEE e Izon Science al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities
Schaefer SEE è lieta di annunciare la propria partecipazione, insieme al partner Izon Science, al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities, in programma il 3–4...
-
Domenica 23 Agosto 2026
Preparazione del campione e osservazione SEM, in una soluzione compatta e completa
Il G5 Ion Sputter Coater di GSEM è uno strumento di dimensioni contenute, semplice da utilizzare ed economico, per la preparazione dei campioni destinati all'analisi SEM...
-
Venerdì 07 Agosto 2026
TomoAnalysis 2.0: nuovi tutorial per l’analisi 3D label-free con la microscopia olotomografica Tomocube
Siamo lieti di presentare la nuova serie di video tutorial dedicati a TomoAnalysis, realizzata per aiutare gli utenti a sfruttare al meglio i dati di imaging acquisiti con i...
TomoAnalysis 2.0: nuovi tutorial per l’analisi 3D label-free con la microscopia olotomografica Tomocube -
Lunedì 03 Agosto 2026
Sensofar Event 2026: “Redefining the Metrology Experience” – La nuova evoluzione della metrologia ottica 3D
Il 1° settembre 2026 un'esclusiva anteprima online svelerà l'ultima innovazione di Sensofar nella metrologia ottica 3D
...Sensofar Event 2026: “Redefining the Metrology Experience” – La nuova evoluzione della metrologia ottica 3D
Venerdì 25 Luglio 2025
Lunedì 14 Luglio 2025
Izon Science offre una piattaforma che rappresenta lo stato dell’arte nell’analisi delle vescicole extracellulari (EV).
Lo studio pubblicato da Diehl et al. nel 2023 ha dimostrato quanto sia fondamentale adottare un flusso di lavoro standardizzato per ottenere EV...
Martedì 08 Luglio 2025
Il 22 luglio 2025 si terrà un webinar gratuito su Microsoft Teams dedicato alla presentazione del nuovo software Discover, la piattaforma di imaging e analisi EDS integrata nel SEM da banco Semplor Nanos...
Martedì 01 Luglio 2025
Schaefer parteciperà al FISMAT 2025 – Conference on Statistical Physics and Complex Systems, che si terrà dal 7 all’11 luglio...
Lunedì 23 Giugno 2025
Schaefer SEE srl parteciperà al Congresso AIPVet 2025, in programma dal 26 al 27 giugno 2025 presso il Centro...