Hi’Res-C

Punte in silicio ad Alta Risoluzione
Produttore: 

La punta Hi’Res-C soffre minore contaminazione delle punte in silicio, ed è in grado di ottenere diverse scansioni in alta risoluzione, sebbene richiedano una speciale attenzione nell'uso. A causa del piccolo raggio di curvatura della punta, la forza di attrazione della punta è ridotta al minimo.

I vantaggi della punta Hi’Res-C sono notevoli quando si scansionano piccole aree (< 250 nm) e campioni piatti (Ra < 20 nm). Su immagini più grandi, la risoluzione è simile a quella ottenibile dalle punte normali.

Caratteristiche Tecniche

Raggio dell'estremità ................................... < 1 nm
Altezza dell'estremità  ...................................100 - 200 nm
Materiale dell'estremità  ...................................diamond-like

Rivestimento totale:
Rivestimento totale Au ...................................30 nm
Strato di Cr ...................................20 nm

Caratteristiche Tecniche
Serie CantileverRivestimentiLunthezza l, ± 5 μmLarghezza ±3µmSpessore ±5µmFreq. Rison. kHz TipicaFreq. Rison. kHz RangeConst. Force N/m TipicaConst. Force N/m Range
Hi’Res-C14/Cr-Au125252.1160110-2205.01.8-13
Hi’Res-C15/Cr-Au125304.0325265-4104020-80
Hi’Res-C19/Cr-Au12522.51.06525-1200.50.05-2.3
Hi’Res-C18/Cr-Au22527.53.07560-902.81.2-5.5