Hi’Res-C

La punta Hi’Res-C soffre minore contaminazione delle punte in silicio, ed è in grado di ottenere diverse scansioni in alta risoluzione, sebbene richiedano una speciale attenzione nell'uso. A causa del piccolo raggio di curvatura della punta, la forza di attrazione della punta è ridotta al minimo.

I vantaggi della punta Hi’Res-C sono notevoli quando si scansionano piccole aree (< 250 nm) e campioni piatti (Ra < 20 nm). Su immagini più grandi, la risoluzione è simile a quella ottenibile dalle punte normali.