La punta Hi’Res-C soffre minore contaminazione delle punte in silicio, ed è in grado di ottenere diverse scansioni in alta risoluzione, sebbene richiedano una speciale attenzione nell'uso. A causa del piccolo raggio di curvatura della punta, la forza di attrazione della punta è ridotta al minimo.
I vantaggi della punta Hi’Res-C sono notevoli quando si scansionano piccole aree (< 250 nm) e campioni piatti (Ra < 20 nm). Su immagini più grandi, la risoluzione è simile a quella ottenibile dalle punte normali.
Caratteristiche Tecniche
Raggio dell'estremità ................................... < 1 nm
Altezza dell'estremità ...................................100 - 200 nm
Materiale dell'estremità ...................................diamond-like
Rivestimento totale:
Rivestimento totale Au ...................................30 nm
Strato di Cr ...................................20 nm
Serie Cantilever | Rivestimenti | Lunthezza l, ± 5 μm | Larghezza ±3µm | Spessore ±5µm | Freq. Rison. kHz Tipica | Freq. Rison. kHz Range | Const. Force N/m Tipica | Const. Force N/m Range |
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Hi’Res-C14 | /Cr-Au | 125 | 25 | 2.1 | 160 | 110-220 | 5.0 | 1.8-13 |
Hi’Res-C15 | /Cr-Au | 125 | 30 | 4.0 | 325 | 265-410 | 40 | 20-80 |
Hi’Res-C19 | /Cr-Au | 125 | 22.5 | 1.0 | 65 | 25-120 | 0.5 | 0.05-2.3 |
Hi’Res-C18 | /Cr-Au | 225 | 27.5 | 3.0 | 75 | 60-90 | 2.8 | 1.2-5.5 |