MountainsSPIP®

Analisi avanzata di particelle

• Rileva e quantifica particelle, pori, granuli e altre caratteristiche, di qualsiasi forma e dimensione, su qualsiasi superficie
• Beneficia di tecniche di segmentazione orientate all'applicazione
• Raggruppa le particelle in classi in base alle loro caratteristiche
• Genera statistiche e grafici (grafico a dispersione, box plot, diagramma di controllo, istogramma ecc.)

Spettroscopia di forza

• Visualizza le curve di forza e le pre-elabora automaticamente con strumenti di denoising, normalizzazione e calibrazione
• Rileva automaticamente gli eventi di adesione e calcola i parametri
• Genera modelli WLC (wormlike chain).
• Analizza serie di curve di forza e genera statistiche (carte di controllo, grafici a dispersione, istogrammi) su qualsiasi parametro
• Visualizza i dati sul volume della forza e visualizza le mappe dei parametri interattive
• Filtra il volume della forza ed estrae sezioni o singole curve di forza in modo interattivo

Analisi correlativa

• Combina le immagini SPM con i dati di altri strumenti (SEM, microscopi ottici 3D, microscopi confocali ecc.) per eseguire analisi correlative.
• Sovrapponi immagini topografiche ad alta risoluzione acquisite con un microscopio a forza atomica (AFM) su immagini RGB acquisite da un microscopio con un campo visivo più ampio (SEM, fluorescenza, immagini ottiche).

Imaging e analisi multicanale

I microscopi a scansione di sonda comunemente visualizzano più interazioni contemporaneamente. Attraverso le loro diverse modalità, i microscopi SPM/AFM producono più set di dati dalla stessa posizione sul campione (ad esempio topografia, conducibilità o rigidità).

• Gestisci le immagini multicanale con la stessa facilità ed efficienza come se si trattasse di una semplice immagine topografica
• Visualizza diversi canali in 3D con il semplice tocco di un pulsante
• Applica l'analisi a un singolo canale o a tutti i canali
• Estrai sezioni multicanale
• Esplora le correlazioni tra i diversi canali

Approfondisci: www.digitalsurf.com/news/multi-channel-data-how-to-study-correlations/

Calibrazione laterale

• Nelle immagini con pattern regolari, puoi quantificare le distorsioni di linearità e le distorsioni di ridimensionamento di una superficie, utilizzando una cella unitaria.
• Utilizza questi valori come fattori di correzione per intervenire sulla linearità e sul ridimensionamento di altre superfici.

Deconvoluzione della punta

Correggere l'effetto della punta sulla superficie da misurare.

• Simula la geometria della punta
• Stima la geometria della punta utilizzando il metodo di "blind reconstrucion" di Villarrubia
• Salva la geometria della punta e riutilizzala per la deconvoluzione di altre superfici

Analisi della struttura superficiale

• Separare le componenti di rugosità e ondulazione delle superfici utilizzando le più recenti tecniche di filtraggio avanzate ISO 16610, inclusi filtri gaussiani e Spline.
• Accesso ai parametri ISO: parametri ISO 25178 altezza (Sa, Sq, Ssk, Sku, Sz, ecc.) e funzionali (Smr, Smc, Sxp), parametri ISO 4287 primari e di rugosità (Ra, Rq, Rsk, Rmr, Rdc, Rdq, RPc, ecc.) ecc...