Nano-Observer II

Il Nano-Observer II è un microscopio a forza atomica (AFM) all’avanguardia che unisce flessibilità, prestazioni eccezionali e facilità d’uso. Progettato sia per utenti esperti che per principianti, offre un’ampia gamma di funzionalità per l’imaging e la caratterizzazione su scala nanometrica.

Design Intuitivo e Facile da Usare

• Visione dall’alto e laterale dell’area punta/campione per un processo di pre-approccio efficiente

• Testina AFM compatta con supporto opzionale per punta/laser con preallineamento

• Software AutoScan: scansione automatica più semplice e veloce

• Approccio automatico: avvicinamento finale rapido e delicato completamente automatizzato

Autogain: regolazione attiva in tempo reale dei guadagni di feedback AFM

Condizioni di Setpoint: Setpoint preimpostati
(Per interazione Soft, Medium o Hard)

Scansione ad Alte Prestazioni

• Capacità di scansione ad alta risoluzione e basso rumore

• Scansioni su aree grandi e piccole senza necessità di cambiare la testina di scansione

• Risoluzione costante su tutte le dimensioni di scansione

Integrazione di Tecnologie Avanzate

• Nuovo controller AFM Galaxy USB a 24 bit a basso rumore

• Lock-in integrati di alta qualità

• Supporto per modalità avanzate: Fase, PFM, EFM, KFM...

• Modalità chiave: HD-KFM e ResiScope per imaging ad alta risoluzione

AFM + Glove Box
L’esplorazione delle proprietà di diversi materiali richiede spesso un ambiente controllato. Una glove box permette il controllo preciso di umidità o gas (es. N₂, Ar), proteggendo campioni sensibili—come materiali bidimensionali, litio, materiali organici o fotovoltaici—dagli influssi ambientali.

AFM + Accoppiamento Ottico
Il Nano-Observer II presenta un design aperto che consente l’integrazione con tecniche di microscopia ottica (UV, IR, Raman, ecc.), permettendo un’illuminazione ottimizzata per applicazioni come l’illuminazione fotovoltaica.