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Le punte Conductive ACCESS sono punte di silicio con rivestimenti conduttivi (Platino-Iridio e oro) progettati per permettere una visuale diretta della punta AFM in produzione di immagini. Le punte ACCESS-EFM sono rivestite con Platino-Iridio, mentre le ACCESS-FM-GG sono rivestite in oro. Entrambe le punte sono idealti per microscopia a forza elettrica (Electric Force Microscopy, EFM)
Caratteristiche Tecniche