xTS – X-ray Tomography

Il xTS di Psylotech è un sistema di test innovativo progettato per la tomografia a raggi X in situ, offrendo un'analisi dettagliata e tridimensionale dei materiali durante l'applicazione di carichi meccanici. Questo strumento consente di osservare in tempo reale l'evoluzione della microstruttura interna, permettendo una caratterizzazione avanzata della risposta meccanica dei materiali.

Caratteristiche principali

• Test in situ ad alta risoluzione. Consente di monitorare il comportamento dei materiali in condizioni di carico, migliorando la comprensione delle loro proprietà meccaniche.

• Compatibilità con sistemi di tomografia a raggi X. Progettato per integrarsi con strumenti di imaging avanzati, garantendo una visualizzazione chiara e dettagliata.

• Design ottimizzato per la sperimentazione multi-scala. Ideale per testare un'ampia gamma di materiali, dalle microstrutture ai compositi avanzati.

• Elevata precisione e controllo. Il sistema garantisce un posizionamento stabile e una movimentazione precisa del campione, riducendo artefatti nelle immagini acquisite.

Applicazioni

• Analisi della deformazione interna dei materiali
• Caratterizzazione dei difetti e delle fratture
• Studio del comportamento dei materiali compositi e porosi
• Ricerca su materiali avanzati per l’aerospaziale, biomedicale e manifatturiero

Innovazione e Affidabilità

Psylotech continua a spingere i confini della sperimentazione meccanica multi-scala, fornendo strumenti all'avanguardia per la ricerca sui materiali. Con il xTS, gli utenti possono ottenere dati senza precedenti per migliorare la progettazione, l'affidabilità e le prestazioni dei materiali nei settori più esigenti.