scienza dei materiali

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di scienza dei materiali

Lunedì 16 Aprile 2018
Profilometro ottico S Neox Five Axis - La soluzione Sensofar per la misura in Full 3D

Sensofar Metrology ha annunciato una new entry nella sua gamma di sistemi per metrologia di superficie in 3D a non contatto: il "Five Axis". Il nuovo profilometro ottico 3D unisce un modulo rotazionale ad alta precisione  e una piattaforma translazionale ad alta risoluzione,...

Mercoledì 15 Novembre 2017
Sensofar Webinar - SensoSCAN 6.4 - Software Profilometria 3D 28 Nov. 2017 11:00 - 11:40

Quando: martedì 28 novembre 2017, ore 11 e ore 18

Schaefer Italia vi invita a partecipare al webinar riguardante il lancio della nuova versione, 6.4, del software SensoSCAN.
 
In questa versione sono diverse le novità, che riguardano queste sezioni: Ispezione...

Martedì 01 Agosto 2017
Smart WLI prime

Schaefer SEE srl ha il piacere di informare che il profilometro interferometrico in luce bianca mod. Smart WLI –prime è presente in demo nella sede operativa di Genova.

Per una ricostruzione 3D altamente accurata della superficie di campioni per lo studio...

Lunedì 03 Luglio 2017
Workshop: State of the art in 3D Surface Metrology - Rovigo - July 26, 2017

Schaefer South-East Europe Srl è lieta di annunciare lo svolgimento di un workshop sulla profilometria in 3D (Metrologia di Superficie in 3D),  in collaborazione con Sensofar, che si terrà alla fine di Luglio a Rovigo, dal titolo "State of the art in...

Lunedì 12 Giugno 2017
Nuove tecnologie per la misura della struttura superficiale: Confocal Fusion e Continuous Confocal - Webinar

Sensofar Metrology ha sviluppato un nuovo e innovativo software per i loro sistemi di misura della struttura superficiale in 3D, per i modelli 3-in-1 della linea S. Due nuove tecniche di misura – Confocal Fusion e Continuous Confocal – rappresentano nuovi sviluppi molto...

Mercoledì 07 Dicembre 2016

Schaefer SEE organizza un evento il giorno 20 Dicembre p.v. a partire dalle ore 10, a Pisa presso il Laboratorio NEST della Scuola Normale Superiore, durante il quale verrà presentato il Microscopio Olografico Digitale DHM® prodotto da Lyncee-Tec e le applicazioni di profilometria 4D rese...

Mercoledì 08 Giugno 2016
Metrologia di superficie in linea ad alta velocità con il Sensofar S onix

Sensofar ha messo a catalogo un nuovo sensore di superficie 3D ad alta velocità – il modello S onix. Il modello S onix è un nuovo e ultracompatto sistema di metrologia di superficie progettato appositamente per processi di misurazione in linea ad alta velocità, e per controlli...

Mercoledì 11 Maggio 2016
Microscopio Olografico Digitale DHM-R

Dal 6 al 10 Giugno 2016 Schaefer organizza un roadshow attraverso l'Italia per promuovere lo strumento DHM-R della Lyncèe Tec, un microscopio Olografico Digitale, per l’acquisizione 3D in tempo reale con risoluzione nanometrica. Lo strumento in demo sarà corredato anche di un add-on per la...

Lunedì 02 Maggio 2016
Nanomechanics iNano Nanoindenter

Abbiamo messo in vendita la nostra unità demo dell'iNano Nanomechanics, a un prezzo molto vantaggioso. Se siete interessati a questa opportunità, potete ottenere ulteriori informazioni contattandoci qui.

Il nanoindentatore iNano™ è uno...

Mercoledì 09 Marzo 2016
Logo MECSPE

Schaefer sarà presente all'edizione 2016 del MECSPE a Parma.
Nell'ambito delle nanotecnologie l'Ing Paolo Bariani di Schaefer terrà due presentazioni. Date e orari sono riportati in fondo a questa news.

La prima presentazione sarà Giovedì 17 e riguarderà la nanoindentazione...

Martedì 09 Febbraio 2016
Sensofar S Lynx 3D profilometro 3D non contatto

Grandi novità da Sensofar, produttore leader nell'ambito della strumentazione per la metrologia ottica. È stata da poco annunciata dalla casa spagnola l'uscita di un nuovo profilometro ottico 3D, il modello S Lynx. Questo strumento è il risultato di 14 anni di...

Mercoledì 04 Marzo 2015
Microscopio STM/AFM Nano Observer - CSI Instruments

Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...

Martedì 16 Dicembre 2014
La pubblicazione che ha vinto il Premio Robert W. Cahn per il 2014

Siamo lieti di annunciare che il vincitore del premio Robert W. Cahn (riconoscimento organizzato dal Journal of Materials Science) come miglior pubblicazione del 2014, va al paper Mechanical...