Sistemi di misurazione di superfici

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di Sistemi di misurazione di superfici

Giovedì 02 Ottobre 2025
A New Dimension - Il futuro della metrologia ottica secondo Sensofar

L'appuntamento è per il 15 ottobre 2025: Sensofar organizza un evento online esclusivo — Sensofar Event 25 — con l'obiettivo di svelare la prossima evoluzione del proprio ecosistema software. Nuove interfacce, flussi di lavoro più intelligenti user friendly, e...

Venerdì 23 Maggio 2025
Nanoscience Institute 4th workshop

Modena, 5-6 giugno 2025

Schaefer Italia è lieta di partecipare al 4° Workshop organizzato dall’Istituto Nanoscienze del CNR, un appuntamento di riferimento per la comunità scientifica italiana attiva nel campo della nanoscienza e della nanotecnologia.

Durante l’...

Venerdì 16 Maggio 2025
Webinar - Metrologia 3D di precisione per la produzione di semiconduttori

Mentre l’industria dei semiconduttori continua a spingere i limiti delle prestazioni dei dispositivi e della miniaturizzazione, la metrologia 3D rimane essenziale per ottenere una resa costante, una qualità affidabile e tempi di immissione sul mercato più rapidi...

Mercoledì 12 Marzo 2025

SIamo in movimento! La settimana del 5 maggio, portiamo il profilometro ottico 3D S Lynx 2 di Sensofar direttamente da voi, con un esclusivo roadshow. Un'occasione imperdibile per vedere in azione una delle soluzioni più avanzate per la metrologia di superfici, con un sistema di misura 3D a non...

Giovedì 07 Settembre 2023
Schaefer partecipa al XVI Convegno dell'Associazione Italiana delle Tecnologie Manifatturiere (AITEM)  dal 13 al 15 settembre

Siamo entusiasti di annunciare la nostra partecipazione al XVI Convegno dell'Associazione Italiana delle Tecnologie Manifatturiere (AITEM) 2023, che si terrà dal 13 al 15 settembre presso l'Università degli Studi di Napoli Federico II, Piazzale Tecchio 80, 80125 Napoli.

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Lunedì 28 Agosto 2023
Schaefer all'Eurosensors 2023 insieme al partner LyncéeTec: innovazioni all’avanguardia nel campo dei sensori e dei MEMS

Saremo presenti alla 35ª edizione di Eurosensors, la rinomata conferenza internazionale dedicata alla ricerca teorica e applicata nel campo dei sensori e dei micro-nanosistemi. L'evento, che avrà luogo dal 10 al 13 settembre, rappresenterà l'occasione...

Sabato 14 Settembre 2019
S neox Five Axis 3D optical profilometer 2019 - Product Release

Il nuovo profilometro ottico 3D S neox Five Axis combina, alla stessa maniera del modello precedente, il modulo rotazionale ad alta precisione, la piattaforma di traslazione ad alta risoluzione e capacità avanzate di ispezione e analisi. Include inoltre eccezionali ...

Martedì 01 Agosto 2017
Smart WLI prime

Schaefer SEE srl ha il piacere di informare che il profilometro interferometrico in luce bianca mod. Smart WLI –prime è presente in demo nella sede operativa di Genova.

Per una ricostruzione 3D altamente accurata della superficie di campioni per lo studio...

Mercoledì 07 Dicembre 2016

Schaefer SEE organizza un evento il giorno 20 Dicembre p.v. a partire dalle ore 10, a Pisa presso il Laboratorio NEST della Scuola Normale Superiore, durante il quale verrà presentato il Microscopio Olografico Digitale DHM® prodotto da Lyncee-Tec e le applicazioni di profilometria 4D rese...