- Home
- Prodotti
- Profilometri ottici
- Microtomografia ai raggi X
- Microscopi per imaging sulla nanoscala
- Microscopie per analisi e manipolazione di singola cellula
- Microonde e Radiofrequenze
- Microscopia Digitale
- Strumenti per bio-nanoparticelle
- Sistemi di isolamento dalle vibrazioni
- Accessori e consumabili per Alto Vuoto e Ultra Alto Vuoto (UHV)
- Asta magnetica ridotta trasferimento campioni
- Asta magnetica per trasferimento campioni - Standard
- Braccio telescopico radiale
- Hardware per vuoto (attacchi, adattatori, ecc..)
- Stelo magnetico oscillante
- Port Aligners
- Passanti a movimento rotatorio
- Viewport - Finestre di controllo e Otturatori
- Valvole
- Sorgenti ultravioletto da vuoto (VUV)
- Sorgenti per Magnetron Sputtering
- Sistemi MBE (Molecular Beam Epitaxy)
- Sistemi di trasferimento del campione
- Sigillanti per sistemi in Ultra Alto Vuoto - UHV
- Passanti a movimento lineare
- Manipolatori basse temperature Helium Free - Low-Helium
- Feedthrough passanti elettrici per vuoto e ultra alto vuoto
- Evaporatori
- Componenti e Accessori UHV
- Camere e componenti
- Sistemi automatizzati di riconoscimento
- Consumabili Software Accessori AFM, SPM, STM, SEM e TEM
- Accessori e consumabili SEM
- Punte AFM/SPM
- Punte Conduttive e Punte Magnetiche
- Punte sharp con singolo cristallo di diamante
- Punte AFM Metalliche Super Sharp
- MEMS e Punte custom - Opzioni di personalizzazione
- Punte rivestite e rinforzate
- Punte e moduli per SThM
- Punte Silicio "Tip-View"
- Punte SPM/AFM al Nitruro di Silicio (Si3N4)
- Tipless Cantilever
- Punte SPM/AFM Silicio
- Strutture di Test e di Calibrazione
- Software analisi AFM, SEM, Profilometri
- Analisi di nanoparticelle
- Film Sottili
- Misura e controllo di: vuoto, flussi massici e campi magnetici
- Nanoparticelle per la Ricerca Scientifica
- Spin Coaters
- Strumenti per analisi fisico-chimiche
- Attrezzature plasticheria e vetreria per laboratorio
- Spettrofotometri per il colore
- Applicazioni
- Analisi Ambientali
- MEMS: analisi dinamica
- Misura e Controllo di Grandezze Fisiche
- Nano-Bio Scienze - Nanobiotecnologia
- Nanoparticelle
- Ricerca Industriale
- Scienza dei Materiali
- Scienza delle Superfici
- Partners
- Adama Innovations
- Affinity Biosciences
- AppNano
- CellSorter
- Concept Scientific Instruments
- Cordouan Technologies
- Cytoviva
- Daeil Systems
- DeltaPix
- Digital Surf
- GBS-Ilmenau GmbH
- Group 3 Technology
- Izon Science
- K&S Advanced Systems
- KLA Instruments
- KLM - Spin Coater
- LS Instruments
- Lyncée Tec
- Mikromasch
- Neoscan
- OCI Vacuum Microengineering
- Oxford NanoAnalysis
- Phasis
- Phe-nx
- RHK Technology
- Rocky Mountain Nanotechnology
- Sairem
- Sensofar
- Teledyne Hastings
- Testo AG
- Tomocube, Inc
- Vacseal Inc.
- X-rite
- nanoAnalytics
- nanoTherics
- Blog
- Chi Siamo
- Contatti
Webinar 16/09/2021 - Caratterizzazione della forma delle particelle tramite Light Scattering
Giovedì 16 settembre 2021 - 15.00 Europa/Roma
Il prof. Matthias Karg dell'Università Heinrich-Heine, Dusseldorf, sarà il relatore di questo evento promosso da LS Instruments e incentrato sulla caratterizzazione della forma delle particelle.
Prodotti correlati
NanoLab 3D
3D LS Spectrometer
Partner
LS Instruments
Categorie correlate
DLS Dynamic Light Scattering