Workshop profilometria 4D DHM® Lyncee Tec a Pisa - 20 Dicembre 2016

Mercoledì 07 Dicembre 2016

Schaefer SEE organizza un evento il giorno 20 Dicembre p.v. a partire dalle ore 10, a Pisa presso il Laboratorio NEST della Scuola Normale Superiore, durante il quale verrà presentato il Microscopio Olografico Digitale DHM® prodotto da Lyncee-Tec e le applicazioni di profilometria 4D rese possibili dallo strumento.

La Microscopia Olografica Digitale (DHM®) vi permette di caratterizzare i vostri campioni come mai avete fatto prima!

Durante l'evento Lyncee-Tec premierà il Dott. Pasqualantonio Pingue, vincitore di uno dei premi messi in palio quest'anno per il Lyncée-Tec Innovation Challenge 2016. Il Prof. Pingue è infatti stato premiato per il suo contributo, una delle tre migliori idee innovative per applicazioni di profilometria 4D.

 

I VINCITORI DEL CHALLENGE

 

La partecipazione all'evento è gratuita

Per partecipare o ricevere informazioni sullo strumento, è possibile contattare l'ing. Paolo Bariani ai seguenti riferimenti:

Lyncée Tec

With Digital Holographic Microscopy characterize your samples like you couldn’t before !
LA TECNOLOGIA DHM in Pillole
  • Profilometria 3D in tempo reale: DHM® misura la topografia 3D di una superficie e la sua evoluzione nel tempo, senza che sia richiesto alcun meccanismo di scansione. Fornisce una velocità di acquisizione imbattibile, con una frequenza di fotogrammi fino a 1000 fps, rendendo possibili:
    • Studio in 3D del comportamento dinamico di superfici deformabili

    • Acquisizione rapida e analisi di superfici di ampie dimensioni

    • Ispezioni di routine con altissima produttività

    • Cattura di topografie 3D in linea di produzione, senza fermare il campione
       

  • Misura 3D in condizioni ambientali modificate. L'esclusiva configurazione ottica del DHM® permette all'utente di misurare, con una eccellente qualità ottica:
    • Attraverso vetro e liquidi in immersione
    • All'interno di camere in vuoto o con atmosfera modificata
    • Con il controllo di: temperatura, umidità, pressione o composizione dell'atmosfera
       
  • Misura topografica di pattern trasparenti. Il software DHM® di analisi riflettometrica permette la misurazione di:
    • Topografia di strutture trasparenti
    • Valori di spessore e di indice di rifrazione di strutture multi-layer con spessori da 10nm fino ad alcune decine di micron
    • Topografia di materiali soft e di liquidi
       
  • Analisi MEMS fino a 25 MHz. L'unità stroboscopica opzionale sincronizza le misure fatte con il DHM® con il segnale di eccitazione del MEMS. L'analisi di questo set di dati fornisce:
    • Topografie 3D in sequenza temporale
    • Risonanze e risposte di frequenza
    • Ampiezza di vibrazione con una risoluzione di 5pm per spostamenti fuori piano e 1nm per spostamenti in piano
    • Caratterizzazione di movimenti e geometrie complesse del campione, inclusa la presenza di buchi

 

LA SCHEDA TECNICA DEL REFLECTION dhm