Schaefer SEE organizza un evento il giorno 20 Dicembre p.v. a partire dalle ore 10, a Pisa presso il Laboratorio NEST della Scuola Normale Superiore, durante il quale verrà presentato il Microscopio Olografico Digitale DHM® prodotto da Lyncee-Tec e le applicazioni di profilometria 4D rese possibili dallo strumento.
La Microscopia Olografica Digitale (DHM®) vi permette di caratterizzare i vostri campioni come mai avete fatto prima!
Durante l'evento Lyncee-Tec premierà il Dott. Pasqualantonio Pingue, vincitore di uno dei premi messi in palio quest'anno per il Lyncée-Tec Innovation Challenge 2016. Il Prof. Pingue è infatti stato premiato per il suo contributo, una delle tre migliori idee innovative per applicazioni di profilometria 4D.
Profilometria 3D in tempo reale: DHM® misura la topografia 3D di una superficie e la sua evoluzione nel tempo, senza che sia richiesto alcun meccanismo di scansione. Fornisce una velocità di acquisizione imbattibile, con una frequenza di fotogrammi fino a 1000 fps, rendendo possibili:
Studio in 3D del comportamento dinamico di superfici deformabili
Acquisizione rapida e analisi di superfici di ampie dimensioni
Ispezioni di routine con altissima produttività
Cattura di topografie 3D in linea di produzione, senza fermare il campione
Misura 3D in condizioni ambientali modificate. L'esclusiva configurazione ottica del DHM® permette all'utente di misurare, con una eccellente qualità ottica:
Attraverso vetro e liquidi in immersione
All'interno di camere in vuoto o con atmosfera modificata
Con il controllo di: temperatura, umidità, pressione o composizione dell'atmosfera
Misura topografica di pattern trasparenti. Il software DHM® di analisi riflettometrica permette la misurazione di:
Topografia di strutture trasparenti
Valori di spessore e di indice di rifrazione di strutture multi-layer con spessori da 10nm fino ad alcune decine di micron
Topografia di materiali soft e di liquidi
Analisi MEMS fino a 25 MHz. L'unità stroboscopica opzionale sincronizza le misure fatte con il DHM® con il segnale di eccitazione del MEMS. L'analisi di questo set di dati fornisce:
Topografie 3D in sequenza temporale
Risonanze e risposte di frequenza
Ampiezza di vibrazione con una risoluzione di 5pm per spostamenti fuori piano e 1nm per spostamenti in piano
Caratterizzazione di movimenti e geometrie complesse del campione, inclusa la presenza di buchi
Workshop profilometria 4D DHM® Lyncee Tec a Pisa - 20 Dicembre 2016
Schaefer SEE organizza un evento il giorno 20 Dicembre p.v. a partire dalle ore 10, a Pisa presso il Laboratorio NEST della Scuola Normale Superiore, durante il quale verrà presentato il Microscopio Olografico Digitale DHM® prodotto da Lyncee-Tec e le applicazioni di profilometria 4D rese possibili dallo strumento.
La Microscopia Olografica Digitale (DHM®) vi permette di caratterizzare i vostri campioni come mai avete fatto prima!
Durante l'evento Lyncee-Tec premierà il Dott. Pasqualantonio Pingue, vincitore di uno dei premi messi in palio quest'anno per il Lyncée-Tec Innovation Challenge 2016. Il Prof. Pingue è infatti stato premiato per il suo contributo, una delle tre migliori idee innovative per applicazioni di profilometria 4D.
I VINCITORI DEL CHALLENGE
La partecipazione all'evento è gratuita
Per partecipare o ricevere informazioni sullo strumento, è possibile contattare l'ing. Paolo Bariani ai seguenti riferimenti:
Studio in 3D del comportamento dinamico di superfici deformabili
Acquisizione rapida e analisi di superfici di ampie dimensioni
Ispezioni di routine con altissima produttività
Cattura di topografie 3D in linea di produzione, senza fermare il campione
LA SCHEDA TECNICA DEL REFLECTION dhm
Partner
Lyncée Tec