Nano-Observer

 IIl Il nuovo microscopio AFM Nano-Observer si caratterizza per il rapporto Qualità/prezzo. Si tratta di un microscopio con caratteristiche prestazionali idonee a misurazioni sulla nano-scala di frontiera, ad un prezzo concorrenziale. Il microscopio è stato sviluppato da Concept Scientific Instruments (con sede a Les Ulis nell'area metropolitana di Parigi).

Il Nano-Observer si distingue per le seguenti caratteristiche funzionali/prestazionali:

• Singolo scanner con spazzata 100umX100umX9um ed alta risoluzione. Ciò rende possibile zoomare in aree di interesse sub-micrometriche, e fare imaging con risoluzione molecolare partendo da una visione di insieme su scala di molte decine di micometri
• Dotazione di una cameretta entro la quale si può agevolmente creare un'atmosfera controllata (es. gas inerte), con laser e fotodiodo esterni a tale camera
• Modalità SPM avanzate, con particolare focus su AFM conduttivo (noto come: I-AFM, o C-AFM o CS-AFM) con il più vasto range di corrente elettrica disponibile sul mercato!
• Ottimo contrasto di fase, importante nelle modalità di imaging avanzate!
• Facilità di utlizzo: grazie ad una interfaccia SW moderna che consente di visualizzare

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