Il smartWLI nanoscan è un profilometro ottico 3D ad alta risoluzione, progettato per misurare strutture su scala nanometrica e microstrutture funzionali con elevato rapporto di aspetto. Grazie all'illuminazione a LED blu ad alta magnificazione e a una fotocamera da 5 MP, il sistema è in grado di rilevare strutture con dimensioni laterali fino a circa 0,4 µm e una densità di punti spaziali fino a 0,03 µm.
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Alta risoluzione: Consente misurazioni precise di strutture su scala nanometrica, con una densità di punti spaziali fino a 0,03 µm.
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Obiettivi intercambiabili manualmente: Offre flessibilità nelle applicazioni, permettendo l'adattamento a diverse esigenze di misurazione.
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Software avanzato: Include il software di misurazione smartVIS3D e il software di valutazione MountainsMap®, facilitando l'acquisizione e l'analisi dei dati.
In sintesi, il smartWLI nanoscan rappresenta una soluzione avanzata per la profilometria ottica 3D, ideale per applicazioni che richiedono misurazioni ad alta risoluzione di nanostrutture e microstrutture funzionali.