Cosa succederebbe se potessi osservare cellule vive in 3D, senza marcatori fluorescenti, senza fissazione, senza alterare il campione? Con l'olotomografia di Tomocube è possibile.
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Scientific EquipmentIl Blog di Schaefer
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Ultime News
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Sabato 05 Settembre 2026
Schaefer SEE ad AITEM 2026: soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e la metrologia ottica 3D
Schaefer SEE Srl parteciperà ad AITeM 2026, presentando soluzioni avanzate per la caratterizzazione dei materiali, la microscopia elettronica e la metrologia delle...
Schaefer SEE ad AITEM 2026: soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e la metrologia ottica 3D -
Venerdì 28 Agosto 2026
Schaefer SEE e Izon Science al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities
Schaefer SEE è lieta di annunciare la propria partecipazione, insieme al partner Izon Science, al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities, in programma il 3–4...
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Domenica 23 Agosto 2026
Preparazione del campione e osservazione SEM, in una soluzione compatta e completa
Il G5 Ion Sputter Coater di GSEM è uno strumento di dimensioni contenute, semplice da utilizzare ed economico, per la preparazione dei campioni destinati all'analisi SEM...
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Venerdì 07 Agosto 2026
TomoAnalysis 2.0: nuovi tutorial per l’analisi 3D label-free con la microscopia olotomografica Tomocube
Siamo lieti di presentare la nuova serie di video tutorial dedicati a TomoAnalysis, realizzata per aiutare gli utenti a sfruttare al meglio i dati di imaging acquisiti con i...
TomoAnalysis 2.0: nuovi tutorial per l’analisi 3D label-free con la microscopia olotomografica Tomocube -
Lunedì 03 Agosto 2026
Sensofar Event 2026: “Redefining the Metrology Experience” – La nuova evoluzione della metrologia ottica 3D
Il 1° settembre 2026 un'esclusiva anteprima online svelerà l'ultima innovazione di Sensofar nella metrologia ottica 3D
...Sensofar Event 2026: “Redefining the Metrology Experience” – La nuova evoluzione della metrologia ottica 3D
Lunedì 04 Maggio 2026
Nel giorno dello Star Wars Day, CSInstruments raggiunge un traguardo importante: 20 anni all'avanguardia nella Microscopia a Forza Atomica. Per festeggiare, l'azienda ha lanciato una pagina anniversario speciale ricca di sorprese: un quiz a tema AFM per vincere gadget esclusivi...
Giovedì 16 Aprile 2026
Saremo presenti a Genova all'International Scanning Probe Microscopy Conference con il microscopio AFM NanoObserver II e il controller Galaxy Dual Controller. Stiamo organizzando demo presso i laboratori di ricerca nei giorni successivi all'evento. Contattaci!
Siamo lieti di annunciare...
Lunedì 13 Aprile 2026
Il nuovo strumento basato, sulla tecnologia NPS, si rivolge ai ricercatori nel campo delle nanoparticelle lipidiche, che necessitano di un'accuratezza pari a quella del TEM, evitando l'impegnativa curva di apprendimento dei sistemi tradizionali a singola particella
Izon Science ha...
Domenica 29 Marzo 2026
Schaefer SEE parteciperà a NANOSEA 2026, la 9ª Conferenza Internazionale su Nanostrutture e Nanomateriali Self-Assembly, che si terrà a Catania, Sicilia (Italia) dal 9 al 12 giugno 2026.
NANOSEA è uno dei più importanti forum europei dedicati alla scienza delle...