Schaefer-Tec e CS Instruments all’ISPM 2026 – Prenota una demo del Nano-Observer II e del Dual Galaxy Controller AFM nel tuo lab!

Saremo presenti a Genova all'International Scanning Probe Microscopy Conference con il microscopio AFM NanoObserver II e il controller Galaxy Dual Controller. Stiamo organizzando demo presso i laboratori di ricerca nei giorni successivi all'evento. Contattaci!

Siamo lieti di annunciare la nostra partecipazione all'ISPM 2026, la conferenza internazionale dedicata alla microscopia spm, che si terrà a Genova presso l'Università degli Studi di Genova. L'ISPM è uno degli appuntamenti di riferimento della comunità SPM mondiale, fondato nel 1999 e con una storia che abbraccia tre continenti.
In occasione dell'evento saremo presenti insieme al nostro partner CS Instruments, che esporrà due soluzioni di punta per la microscopia a forza atomica:

NanoObserver II
La nuova generazione di microscopi AFM di CS Instruments, progettata per prestazioni avanzate di imaging e caratterizzazione nanometrica su una vasta gamma di campioni e ambienti.

Galaxy Dual Controller
Un controller AFM avanzato compatibile con un'ampia gamma di piattaforme esistenti, che consente agli utenti di aggiornare i propri microscopi con le più recenti modalità di acquisizione senza sostituire la testa dello strumento. Mantiene le modalità esistenti: STM, Contact, AC, Phase, MFM, EFM, PFM, LFM, modalità EC.  Compatibile con disparati sistemi AFM/SPM, tra cui Multimode AFM, Pico SPM (STM) e microscopi a sonda di scansione Agilent/Keysight (modelli 5100, 5500, 5600LS e serie 54xx). Se siete già in possesso di uno di questi sistemi, il Galaxy Dual Controller rappresenta un'opportunità concreta per modernizzare la vostra strumentazione con nuove modalità elettriche, magnetiche e di imaging — senza sostituire il microscopio.