Il Blog di Schaefer

Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.

Martedì 17 Aprile 2012

Catalogo AppNano SPM/SFM

È online il catalogo delle punte per microscopia a forza atomica e microscopia a scansione di sonda. Prodotti di altissima qualità, accessori e consumabili per le più svariate tipologie di strumenti, tra le quali anche quelle distribuite da Schaefer. AppNano costruisce punte completamente...

Mercoledì 04 Aprile 2012

La direzione della 16° Conferenza Internazionale sulle Pellicole e sulle Superfici solide, informa che il Programma e le decisione in merito agli abstract presentati sono disponibili sul sito web. Ogni autore riceverà una convocazione formale da EPS a breve. Si ricorda che il termin ultimo per l...

Lunedì 19 Marzo 2012

Esempio di misurazione con SmartWLI

Sono online le caratteristiche tecniche dei due sistemi SmartWLI distribuiti da Schaefer in tutta Europa. Il sistema di interferometria a luce bianca della GBS Ilmenau rappresenta la nuova frontiera nella caratterizzazione delle superfici, dalla convenienza assoluta per l'ottimo rapporto qualità...

Venerdì 16 Marzo 2012

SPIP6 - The best has just gotten better

SPIP™6 di Image Metrology, lo standard nell'elaborazione di immagini su scala nanometrica, è disponibile per il download, anche nella trial version.

Alcune delle principali nuove caratteristiche:

  • Interfaccia completamente basata su Ribbons
    Avrete a disposizione...

Lunedì 05 Marzo 2012

Smart WLI Basic & Extended

Abbiamo pubblicato, nella scheda dello SMartWLI family, il pdf con tutta la linea di produzione della GBS. Potrete così avere una prima idea delle funzionalità offerte da questi strumenti, macchine estremamente performanti e dalla convenienza imbattibile. L'interferometri a luce bianca...

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