FemtoLEED Spectrometer DLD L1000

Cristallografia di Film Ultra-Sensibili e Isolanti
Produttore: 
OCI Vacuum Microengineering
Categoria: 
Spettrometri per integrazione in sistemi OEM

 Il FemtoLEED Spectrometer DLD L1000 è uno strumento avanzato e altamente preciso per la diffrazione elettronica a bassa energia (LEED). Questo spettrometro è progettato per offrire prestazioni superiori nell’analisi delle superfici, grazie a una combinazione di tecnologie all’avanguardia, come il rivelatore a linea di ritardo (DLD), che elimina la necessità di uno schermo fluorescente e permette misurazioni completamente digitali.

Caratteristiche principali

  • Rivelatore a Linea di Ritardo (DLD): Questo rivelatore innovativo fornisce una linearità eccezionale, riducendo al minimo il rumore di fondo e migliorando la risoluzione temporale, permettendo misurazioni molto precise.

  • Ottica a doppia focalizzazione: Garantisce un fascio elettronico altamente collimato, essenziale per ottenere dati accurati in tutte le condizioni.

  • Configurazione XY: Permette un posizionamento preciso e accurato del campione per analizzare diverse aree con facilità e senza compromettere la qualità delle misurazioni.

  • Gamma di energia ottimizzata: Questo spettrometro è perfetto per l’analisi di materiali sensibili come semiconduttori, ossidi e film sottili, grazie al suo intervallo di energia ideale per diffrazione elettronica.

Applicazioni

Il FemtoLEED Spectrometer DLD L1000 è utilizzato in molteplici applicazioni avanzate, tra cui:

  • Analisi di superfici: È ideale per studiare cristalli singoli, film sottili e materiali 2D.
  • Cristallografia superficiale: Perfetto per determinare la struttura atomica delle superfici, contribuendo a ricerche in fisica della materia e scienza dei materiali.
  • Nanotecnologie: Supporta la caratterizzazione di materiali a scala nanometrica, fondamentale per lo sviluppo di dispositivi e tecnologie avanzate.

Grazie alla sua precisione, modularità e affidabilità, il FemtoLEED Spectrometer DLD L1000 è la scelta ideale per i laboratori di ricerca e le industrie che necessitano di un controllo avanzato nelle analisi superficiali.

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Caratteristiche Tecniche

  • Rivelatore a Linea di Ritardo (DLD):

    • Alta linearità e precisione nelle misurazioni.
    • Bassi tassi di conteggio di fondo per una migliore risoluzione temporale.
    • Misurazioni completamente digitali, senza necessità di schermi fluorescenti.
    • Aumenta l'affidabilità dei dati nelle applicazioni di analisi superficiali e cristallografia.

  • Energia di funzionamento:

    • Intervallo di energia variabile (generalmente tra 0 e 5 keV) per una migliore adattabilità a diversi tipi di materiali.
    • Ottimizzato per l'analisi di materiali sensibili, inclusi i film sottili e i cristalli singoli.

  • Ottica a doppia focalizzazione:

    • Permette un fascio elettronico collimato e altamente stabile, migliorando la risoluzione delle misurazioni.
    • La stabilità del fascio è fondamentale per ridurre gli errori di misura e per garantire prestazioni ottimali nelle analisi LEED.

  • Posizionamento preciso tramite configurazione XY:

    • Deflessione XY per una posizione precisa del campione.
    • Permette l'orientamento accurato delle superfici per analisi dirette in specifiche aree del campione.

  • Gamma di pressione operativa:

    • Il sistema è progettato per lavorare a basse pressioni di vuoto nell'intervallo 10⁻⁶ – 10⁻⁷ Torr, una condizione ideale per il mantenimento della qualità dei dati in ambienti di alta precisione.

  • Tipologia di gas:

    • Gassi reattivi e nobili utilizzabili per l'analisi superficiale e la produzione di segnali Auger e LEED.

  • Proprietà di bakeability:

    • Il sistema è progettato per essere bakeable fino a 250°C per facilitare il processo di pulizia e mantenere l'ambiente sotto condizioni di ultra-vuoto.

  • Interfaccia e software:

    • Il sistema di rilevamento è supportato da un software che consente la visualizzazione dei dati in tempo reale e il controllo preciso delle impostazioni del fascio.
    • Possibilità di analizzare i dati in modalità completamente digitale per garantire velocità e accuratezza nella raccolta e nell'elaborazione dei dati.
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