Il Blog di Schaefer

Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.

Ultime News

Giovedì 10 Settembre 2026

Schaefer SEE al congresso SGI-SIMP 2026 di Padova con il SEM da banco ONYX, il profilometro ottico S neox 6, il tribometro MFT-5000, lo scanner micro-CT N70 e il microscopio AFM Nano-Observer II.

Schaefer SEE al Congresso congiunto SGI–SIMP 2026 di Padova

15–17 settembre 2026 | Padova Congress, Padova, Italia

Schaefer SEE è lieta di partecipare in qualità di sponsor ed espositore a...

Mercoledì 09 Settembre 2026

Strumentazione scientifica Schaefer SEE in mostra a NanoInnovation 2026 a Roma: Izon DXter, Sensofar S neox 6, Semplor ONYX e Tomocube HT-X1 Plus

Incontra Schaefer SEE a NanoInnovation 2026 – Roma, 14 – 18 settembre 2026

Schaefer SEE parteciperà in qualità di sponsor ed espositore a NanoInnovation 2026, in programma a Roma dal 14 al 18 settembre.

Sede: Facoltà di Ingegneria Civile e Industriale, Sapienza Università di Roma, nel cuore del centro storico, in Via Eudossiana 18...

Sabato 05 Settembre 2026

Schaefer SEE ad AITeM 2026 a Udine con gli strumenti Semplor NANOS, NANOS EBSD, ONYX e Sensofar S neox 6

Schaefer SEE ad AITEM 2026: soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e la metrologia ottica 3D

Schaefer SEE Srl parteciperà ad AITeM 2026, presentando soluzioni avanzate per la caratterizzazione dei materiali, la microscopia elettronica e la metrologia delle superfici.

I visitatori potranno vedere il...

Venerdì 28 Agosto 2026

Locandina Schaefer SEE e Izon Science al III Congresso Nazionale della Rete Core Facilities Italiane, 3-4 Settembre 2026, Chieti - qEV Zenco, DXter, TFF, AFC, Exoid e Pulsoid per isolamento e caratterizzazione di vescicole extracellulari e nanoparticelle

Schaefer SEE e Izon Science al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities

Schaefer SEE è lieta di annunciare la propria partecipazione, insieme al partner Izon Science, al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities, in programma il 3–4 Settembre 2026 presso l'Università degli Studi "G. d'Annunzio" di Chieti.

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Domenica 23 Agosto 2026

Infografica G5 sputter coater e SEM da banco NANOS: preparazione campioni per analisi SEM

Preparazione del campione e osservazione SEM, in una soluzione compatta e completa

Il G5 Ion Sputter Coater di GSEM è uno strumento di dimensioni contenute, semplice da utilizzare ed economico, per la preparazione dei campioni destinati all'analisi SEM.

Grazie al funzionamento completamente automatico, il G5 gestisce con un...

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