Il Blog di Schaefer

Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.

Martedì 01 Agosto 2017

Smart WLI prime

Schaefer SEE srl ha il piacere di informare che il profilometro interferometrico in luce bianca mod. Smart WLI –prime è presente in demo nella sede operativa di Genova.

Per una ricostruzione 3D altamente...

Lunedì 24 Luglio 2017

Enhanced Darkfield Hyperspectral Microscopy - Cytoviva at Nanosafety 2017

Jane Ma et al, Health Effects Laboratory Division, NIOSH, Morgantown, WV, United States, nel recente articolo pubblicato su "Toxicoloy and Applied Pharmacology" del 2017, evidenziano come l'esposizione a nanoparticelle di ossido di Cerio...

Lunedì 03 Luglio 2017

Workshop: State of the art in 3D Surface Metrology - Rovigo - July 26, 2017

Schaefer South-East Europe Srl è lieta di annunciare lo svolgimento di un workshop sulla profilometria in 3D (Metrologia di Superficie in 3D),  in collaborazione con Sensofar, che si terrà alla fine di Luglio a...

Martedì 20 Giugno 2017

High Definiton Kelvin Force Microscopy - BIMODAL HD-KFM

La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di...

Lunedì 12 Giugno 2017

Nuove tecnologie per la misura della struttura superficiale: Confocal Fusion e Continuous Confocal - Webinar

Sensofar Metrology ha sviluppato un nuovo e innovativo software per i loro sistemi di misura della struttura superficiale in 3D, per i modelli 3-in-1 della linea S. Due nuove tecniche di misura – Confocal Fusion e Continuous...

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