La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica particolarmente potente per la caratterizzazione di materiali 2D tra cui grafene e dicalcogenuri di metalli di transizione come il disolfuro di molibdeno (MoS2). L'AFM può misurare facilmente non solo la topografia ma anche le...
Il Blog di Schaefer
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Mercoledì 05 Agosto 2020
Lunedì 03 Agosto 2020
Dai un'occhiata a questo nuovo articolo di Nick Hawkins e dei suoi collaboratori dell'Università di Oxford!
La nuova tecnologia di atomizzazoine è stata utilizzata per generare sali co-amorfi su biofilm. Il DWS RheoLab di LS Instruments ha svolto un ruolo...
Martedì 28 Luglio 2020
Perché crediamo che FluidFM possa aiutare a risolvere alcune delle sfide più critiche nell'ingegneria delle cellule CRISPR?
Qual è la più grande notizia che riguarda la Single Cell Analysis per il 2019?
Quali sono i maggiori problemi che la ricerca sulla genomica e l'analisi delle...
Venerdì 24 Luglio 2020
16 settembre 2020 dalle 09:30 alle 12:00
Non perdere l'occasione di mostrare le tue applicazioni, i risultati e le esperienze relative a FluidFM alla community di FluidFM.
Deadline per la presentazione: 31 luglio 2020
Martedì 21 Luglio 2020
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...