SEM - Microscopia elettronica a scansione

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di SEM - Microscopia elettronica a scansione

Martedì 02 Aprile 2019
Video: performance della tecnica unica CPEM™

Nenovision ha portato l'analisi e la caratterizzazione di grafene e materiale 2D a un livello superiore.

Questo nuovo video mostra come viene effettuata l'analisi di materiali 2D con l'AFM-in-SEM LiteScope di Nenovision!

il...

Venerdì 22 Marzo 2019
Nenovision Litescope AFM-in-SEM

Scopri le potenzialità del Nenovision AFM LiteScope™ 

  • AFM progettato in maniera specifica per una facile integrazione con il SEM
  • Un'ampia gamma di applicazioni nel campo delle Scienze dei Materiali e delle Nanotecnologie, Industria dei Semiconduttori e...
Martedì 15 Maggio 2018
Nenovision LiteScope™ - Un accessorio AFM unico per il vostro SEM

Scopri questa tecnologia unica per la microscopia elettronica

La facile integrazione e combinazione di Microscopia a Forza Atomica e Microscopia Elettronica a Scansione rende possibile l'analisi di campioni complessi in 3D. In questa principale caratteristica sta la...