Scientific Equipment
L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di microscopia a scansione di sonda
Dal 25 al 30 giugno 2026, Schaefer Tec parteciperà a SELSIM 2026, la rinomata scuola e workshop internazionale sulla microscopia a sonda di scansione (SPM) che si terrà a Sondalo, in Italia. Insieme al nostro partner CS Instruments,...
Nel giorno dello Star Wars Day, CSInstruments raggiunge un traguardo importante: 20 anni all'avanguardia nella Microscopia a Forza Atomica. Per festeggiare, l'azienda ha lanciato una pagina anniversario speciale ricca di sorprese: un quiz a tema AFM per vincere gadget esclusivi...
Siamo lieti di annunciare...
Schaefer SEE parteciperà a NANOSEA 2026, la 9ª Conferenza Internazionale su Nanostrutture e Nanomateriali Self-Assembly, che si terrà a Catania, Sicilia (Italia) dal 9 al 12 giugno 2026.
NANOSEA è uno dei più importanti forum europei dedicati alla scienza delle...
Transizione energetica e sostenibilità ambientale: Materiali, processi e dispositivi per la ricerca e le applicazioni industriali
Schaefer parteciperà alla XXVI Conferenza dell'Associazione Italiana del Vuoto (AIV), che si terrà a Roma dal 7 al 10 novembre 2023. L'evento...
AFM Agilent 5100 e 5500 e Multimode - Nuova vita al tuo microscopio - Mantieni le modalità AFM esistenti e aggiungi nuove modalità avanzate!
Webinar GRATUITO giovedì 30 marzo 2023
Due orari disponibili
Scopri come il tuo vecchio AFM...
La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è una delle tecniche più potenti per la caratterizzazione su nanoscala di materiali piezoelettrici e ferroelettrici. Nonostante molti progressi lungo gli ultimi 30 anni, è comunque rimasto difficile effettuare...
Nuovo accessorio per il Jupiter XR AFM: nanoTDDB
Nel campo della microelettronica, i dispositivi MOSFET (transistore a semiconduttore di ossido di metallo a effetto di campo) utilizzano materiali con strato (gate) ad alta costante dielettrica k, come il biossido di afnio (HfO₂) con una costante dielettrica...
Presentatore del webinar: Mathieu Cognard, product manager per le applicazioni SPM.
Relatore Digital Surf: Dalia Yablon, fondatrice di SurfaceChar LLC, esperta di caratterizzazione dei materiali e nanotecnologie
In questo webinar, Digital Surg...
Saremo presenti all'ottava edizione del workshop organizzato da AIT presso il Polo di Meccatronica di Rovereto (TN).
Venite a trovarci da giovedì 30 giugno a venerdì 1 luglio, vi aspettiamo per presentarvi le novità dei nostri partner nel campo della scienza delle superfici, per...
Nuova application note per la riparazione di fotomaschere. Un'ottima opportunità per constatare come le punte di Adama Innovations, realizzate con singolo cristallo di diamante, possono essere utili per questa specifica applicazione.
Schaefer distribuisce le piattaforme antivibranti di Daeil Systems. Daeil è un'azienda coreana che fornisce un'ampia gamma di sistemi di isolamento dalle vibrazioni, con grandi quantità di tavoli ottici venduti e installati in tutto il mondo, sistemi di isolamento passivi e attivi. I clienti...
La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica particolarmente potente per la caratterizzazione di materiali 2D tra cui grafene e dicalcogenuri di metalli di transizione come il disolfuro di molibdeno (MoS2). L'AFM può misurare facilmente non solo la topografia ma anche le...
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...
Galaxy Dual AFM Controller
Con il ResiScope AFM mode e il Galaxy Dual Controller
Il Controller AFM Galaxy Dual può incorporare la modalità...
Rocky Mountain Nanotechnology, LLC, è l'unica azienda che produce sonde AFM ultra affilate in platino e platino-iridio, per misurazioni elettriche ad alta risoluzione. Queste punte AFM possono essere utilizzate in varie modalità, tra cui tapping e contatto, e sono ideali per...
Schaefer è lieta di comunicare che sarà presente, con il partner Asylum-Oxford Instruments, all’evento "Science through Scanning Probe Microscopy 2019 - Extended Version" (StSPM19-EV), organizzato dalla società...
Webinar Live: 16 ottobre 16:00 BST / 11:00 EDT / 08:00 PDT / 17:00 CEST
Gli strumenti di caratterizzazione odierni devono fornire informazioni su scale che arrivano a dimensioni micro o...
I nuovi substrati:
Il controllo delle vibrazioni meccaniche è di fondamentale importanza in tutti quei processi in cui si richiede la massima precisione. Gli esempi più ovvi sono i molteplici campi della microscopia/imaging in cui la risoluzione ottenibile è limitata dal rumore (RMS noise), che ha...
Nenovision ha portato l'analisi e la caratterizzazione di grafene e materiale 2D a un livello superiore.
Questo nuovo video mostra come viene effettuata l'analisi di materiali 2D con l'AFM-in-SEM LiteScope di Nenovision!
il...
Martedì 26 marzo (Americhe), mercoledì 27 marzo (Europa), e giovedì 28 marzo (Asia e Australia) RHK presenterà in un webinar gratuito le caratteristiche uniche del controller SPM R9plus e le sue applicazioni nel campo delle nano-ottiche. (È possibile partecipare a uno qualsiasi...
Schaefer Italia annuncia l'uscita del nuovo microscopio a forza atomica (AFM) Jupiter XR, il primo e unico AFM per campioni di grandi dimensioni, in grado di offrire sia un imaging ad alta velocità che un range esteso, tutto in un singolo scanner....
La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in...
Siamo lieti di annunciare che saremo presenti al "3rd BOLOGNA SPM WORKSHOP - SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY FOR MINERAL, BIOLOGICAL AND MATERIAL SCIENCES", il 14 Luglio prossimo a Bologna.
Il workshop si terrà al Dip.to di Scienze Biologiche, Geologiche e Ambientali presso l'...
Scambia il tuo vecchio strumento e ottieni uno sconto in percentuale per l'acquisto di un nuovo microscopio AFM Nano-Observer!
Il microscopio AFM Nano-Observer ha compiuto 5 anni! Per festeggiare CSI, in collaborazione con Schaefer, offre uno...
Schaefer è lieta di presentare una lunga intervista con Craig Wall, PhD, Marketing Director in RHK Technology sul nuovo pluripremiato sistema PanScan Freedom afm-spm cryogen-free a bassa temperatura. Mr Wall in questa intervista spiega al sito AZoM.com quali sono le...
Dal 20 al 21 Ottobre 2016, presso il CNR - ISMN Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati a Bologna si terrà l'evento "Science through Scanning Probe Microscopy - StSPM'16". Si tratta di un workshop organizzato dalla Società Italiana Scienze Microscopiche (...
Segui Euro 2016 con CSI e vinci!
Unisciti a CSI con le stesse passioni, per il calcio e l'AFM: prevedi i vincitori di Euro 2016, a partire dai Quarti di Finale fino alla Finale, e vinci i premi...
Di seguito pubblichiamo un filmato ripreso da RHK qualche giorno fa con il Beetle UHV750 HV AFM. Questo sistema è funzionalizzato solamente da una pompa a turbina. Il campione è Silicio a 500°C, misurato in modalità AFM a contatto. Ogni immagine...
Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2...
La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.
...
Schaefer e il tem di RHK Technology sono felici di annunciare il lancio della nuovo PanScan Freedom System a 9K! I clienti ora potranno scegliere tra la versione a 15K e a 9K dei sistemi SPM senza liquido criogenico.
Il vostro partner in nanotecnologia e leader nell'innovazione per quanto riguarda i sistemi di controllo SPM vi invita a partecipare al webinar della serie Coffee Talk.
Sapevato che è possibile avvantaggiarsi della flessibilità del controller R9 per raccogliere molte più misurazioni in un...
Un nuovo video su YouTube illustra nei minimi dettagli il funzionamento del microscopio AFM Nano-Observer, prodotto da CSI Instruments. Ora lo strumento si rivela ancor più facile da utilizzare, grazie al controllo touch-screen. disponibile per pc,...
RHK Technology è leader della tecnologia della Microscopia a Scansione di Sonda fin dall'introduzione del suo primo sistema di controllo STM, nel 1988. Centinaia di gruppi di ricerca nel mondo si affidano ai prodotti innovativi di RHK per raggiungere i propri...
Tutti i vantaggi dell'LT, Nessuno dei limiti
PanScan Freedom permette una performance di imaging con bassissimo rumore (<1 pm), con il criostato in funzione. Anche ambienti rumorosi non compromettono le performance,...