microscopia a scansione di sonda

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di microscopia a scansione di sonda

Martedì 15 Maggio 2018
Nenovision LiteScope™ - Un accessorio AFM unico per il vostro SEM

Scopri questa tecnologia unica per la microscopia elettronica

La facile integrazione e combinazione di Microscopia a Forza Atomica e Microscopia Elettronica a Scansione rende possibile l'analisi di campioni complessi in 3D. In questa principale caratteristica sta la...

Martedì 20 Giugno 2017
High Definiton Kelvin Force Microscopy - BIMODAL HD-KFM

La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in...

Lunedì 05 Giugno 2017

Siamo lieti di annunciare che saremo presenti al "3rd BOLOGNA SPM WORKSHOP - SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY FOR MINERAL, BIOLOGICAL AND MATERIAL SCIENCES", il 14 Luglio prossimo  a Bologna.
Il workshop si terrà al Dip.to di Scienze Biologiche, Geologiche e Ambientali presso l'...

Mercoledì 05 Aprile 2017
AFM Trade-In Operation - Get a percentage discount on the purchase of an AFM microscope Nano-Observer

Scambia il tuo vecchio strumento e ottieni uno sconto in percentuale per l'acquisto di un nuovo microscopio AFM Nano-Observer!

Il microscopio AFM Nano-Observer ha compiuto 5 anni! Per festeggiare CSI, in collaborazione con Schaefer, offre uno...

Lunedì 05 Settembre 2016
PanScan Freedom Cryogen-Free LT AFM / STM

Schaefer è lieta di presentare una lunga intervista con Craig Wall, PhD, Marketing Director in RHK Technology sul nuovo pluripremiato sistema PanScan Freedom afm-spm cryogen-free a bassa temperatura. Mr Wall in questa intervista spiega al sito AZoM.com quali sono le...

Lunedì 25 Luglio 2016
CNR - ISMN Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati - Bologna

Dal 20 al 21 Ottobre 2016, presso il CNR - ISMN Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati a Bologna si terrà l'evento "Science through Scanning Probe Microscopy - StSPM'16". Si tratta di un workshop organizzato dalla Società Italiana Scienze Microscopiche (...

Mercoledì 22 Giugno 2016
Nano-Observer Microscopio AFM lancia la sfida per Euro 2016!

Segui Euro 2016 con CSI e vinci!

Unisciti a CSI con le stesse passioni, per il calcio e l'AFM: prevedi i vincitori di Euro 2016, a partire dai Quarti di Finale fino alla Finale, e vinci i premi...

Venerdì 17 Giugno 2016
In vendita a un prezzo d'occasione il nostro microscopio a forza atomica demo TT-AFM!

Abbiamo messo in vendita al prezzo di 22.000,00 euro il demo di AFM Workshop, modello TT-AFM, microscopio a forza atomica entry level. Lo strumento ha caratteristiche tecnico-funzionali di altissimo livello, che lo rendono del tutto adeguato...

Martedì 31 Maggio 2016
Beetle AFM - RHK Technology

Di seguito pubblichiamo un filmato ripreso da RHK qualche giorno fa con il Beetle UHV750 HV AFM. Questo sistema è funzionalizzato solamente da una pompa a turbina. Il campione è Silicio a 500°C, misurato in modalità AFM a contatto. Ogni immagine...

Martedì 05 Aprile 2016
CSInstruments - AFM Training Courses 2016 - Nuova funzionalità AFM: Microscopia a forza magnetica laterale

Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2...

Lunedì 08 Febbraio 2016
Nuove Mikromasch OPUS AFM - Optimized Positioning Upon Sample

La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.

...
Mercoledì 21 Ottobre 2015
RHK Technology SPM PanScan Freedom versione 9K

Schaefer e il tem di RHK Technology sono felici di annunciare il lancio della nuovo PanScan Freedom System a 9K! I clienti ora potranno scegliere tra la versione a 15K e a 9K dei sistemi SPM senza liquido criogenico.

Martedì 13 Ottobre 2015
RHK Technology R9 Control System AFM SPM

Il vostro partner in nanotecnologia e leader nell'innovazione per quanto riguarda i sistemi di controllo SPM vi invita a partecipare al webinar della serie Coffee Talk.
Sapevato che è possibile avvantaggiarsi della flessibilità del controller R9 per raccogliere molte più misurazioni in un...

Martedì 15 Settembre 2015
Microscopio STM/AFM Nano-Observer CSI Instruments con touch screen!

Un nuovo video su YouTube illustra nei minimi dettagli il funzionamento del microscopio AFM Nano-Observer, prodotto da CSI Instruments. Ora lo strumento si rivela ancor più facile da utilizzare, grazie al controllo touch-screen. disponibile per pc,...

Martedì 10 Febbraio 2015
RHK TERS Tip Enhanced Raman Spectroscopy

RHK Technology è leader della tecnologia della Microscopia a Scansione di Sonda fin dall'introduzione del suo primo sistema di controllo STM, nel 1988.  Centinaia di gruppi di ricerca nel mondo si affidano ai prodotti innovativi di RHK per raggiungere i propri...

Lunedì 02 Febbraio 2015
PanScan Freedom-LT - RHK Technology

Tutti i vantaggi dell'LT, Nessuno dei limiti

PanScan Freedom permette una performance di imaging con bassissimo rumore (<1 pm), con il criostato in funzione. Anche ambienti rumorosi non compromettono le performance,...