Scientific Equipment
L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di risoluzione atomica
Dal 25 al 30 giugno 2026, Schaefer Tec parteciperà a SELSIM 2026, la rinomata scuola e workshop internazionale sulla microscopia a sonda di scansione (SPM) che si terrà a Sondalo, in Italia. Insieme al nostro partner CS Instruments,...
Nel giorno dello Star Wars Day, CSInstruments raggiunge un traguardo importante: 20 anni all'avanguardia nella Microscopia a Forza Atomica. Per festeggiare, l'azienda ha lanciato una pagina anniversario speciale ricca di sorprese: un quiz a tema AFM per vincere gadget esclusivi...
Siamo lieti di annunciare...
Schaefer SEE parteciperà a NANOSEA 2026, la 9ª Conferenza Internazionale su Nanostrutture e Nanomateriali Self-Assembly, che si terrà a Catania, Sicilia (Italia) dal 9 al 12 giugno 2026.
NANOSEA è uno dei più importanti forum europei dedicati alla scienza delle...
Schaefer parteciperà in qualità di sponsor ed espositore al Congresso CNR-IMM 2026 “BRIDGE – Boosting Research and Innovation for a Digital and Green Economy”, in...
Siamo entusiasti di annunciare la nostra partecipazione al XVI Convegno dell'Associazione Italiana delle Tecnologie Manifatturiere (AITEM) 2023, che si terrà dal 13 al 15 settembre presso l'Università degli Studi di Napoli Federico II, Piazzale Tecchio 80, 80125 Napoli.
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AFM Agilent 5100 e 5500 e Multimode - Nuova vita al tuo microscopio - Mantieni le modalità AFM esistenti e aggiungi nuove modalità avanzate!
Webinar GRATUITO giovedì 30 marzo 2023
Due orari disponibili
Scopri come il tuo vecchio AFM...
Registrati al webinar che ti guiderà nella selezione della sonda AFM ideale per la tua applicazione! Il 15 febbraio gli esperti di Asylum approfondiranno l'argomento, fornendo informazioni utili per gli utenti AFM, sia principianti che esperti.
Anche per un utente AFM...
La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è una delle tecniche più potenti per la caratterizzazione su nanoscala di materiali piezoelettrici e ferroelettrici. Nonostante molti progressi lungo gli ultimi 30 anni, è comunque rimasto difficile effettuare...
Nuovo accessorio per il Jupiter XR AFM: nanoTDDB
Nel campo della microelettronica, i dispositivi MOSFET (transistore a semiconduttore di ossido di metallo a effetto di campo) utilizzano materiali con strato (gate) ad alta costante dielettrica k, come il biossido di afnio (HfO₂) con una costante dielettrica...
Nuova application note per la riparazione di fotomaschere. Un'ottima opportunità per constatare come le punte di Adama Innovations, realizzate con singolo cristallo di diamante, possono essere utili per questa specifica applicazione.
La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica particolarmente potente per la caratterizzazione di materiali 2D tra cui grafene e dicalcogenuri di metalli di transizione come il disolfuro di molibdeno (MoS2). L'AFM può misurare facilmente non solo la topografia ma anche le...
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...
Cypher VRS Video-Rate AFM
La microscopia a forza atomica (AFM) è uno strumento straordinariamente potente per la ricerca in virologia. Le tecniche di imaging ad alta risoluzione, tra cui l'AFM e la microscopia elettronica, possono facilmente fornire informazioni sulle dimensioni e sulla forma delle particelle...
The first and only full-featured video-rate AFM
Microscopia a forza atomica - AFM - a velocità video come strumento per biochimica e biofisica di singole molecole
L'...
Nenovision ha portato l'analisi e la caratterizzazione di grafene e materiale 2D a un livello superiore.
Questo nuovo video mostra come viene effettuata l'analisi di materiali 2D con l'AFM-in-SEM LiteScope di Nenovision!
il...
Martedì 26 marzo (Americhe), mercoledì 27 marzo (Europa), e giovedì 28 marzo (Asia e Australia) RHK presenterà in un webinar gratuito le caratteristiche uniche del controller SPM R9plus e le sue applicazioni nel campo delle nano-ottiche. (È possibile partecipare a uno qualsiasi...
Siamo lieti di annunciare che saremo presenti al "3rd BOLOGNA SPM WORKSHOP - SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY FOR MINERAL, BIOLOGICAL AND MATERIAL SCIENCES", il 14 Luglio prossimo a Bologna.
Il workshop si terrà al Dip.to di Scienze Biologiche, Geologiche e Ambientali presso l'...
La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.
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CSI e Schaefer augurano a tutti i propri clienti e ai navigatori un buon 2016!
Per l'occasione CSI Instruments, produttore del microscopio AFM Nano-Observer, prendendo spunto dall'evento cinematografico di fine 2015, ha preparato un simpatico video con il...
Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...
Tutti i vantaggi dell'LT, Nessuno dei limiti
PanScan Freedom permette una performance di imaging con bassissimo rumore (<1 pm), con il criostato in funzione. Anche ambienti rumorosi non compromettono le performance,...