risoluzione atomica

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di risoluzione atomica

Martedì 02 Aprile 2019
Video: performance della tecnica unica CPEM™

Nenovision ha portato l'analisi e la caratterizzazione di grafene e materiale 2D a un livello superiore.

Questo nuovo video mostra come viene effettuata l'analisi di materiali 2D con l'AFM-in-SEM LiteScope di Nenovision!

il...

Martedì 19 Marzo 2019
Webinar Gratuito - Controller SPM R9plus da RHK Technology

Martedì 26 marzo (Americhe), mercoledì 27 marzo (Europa), e giovedì 28 marzo (Asia e Australia) RHK presenterà in un webinar gratuito le caratteristiche uniche del controller SPM R9plus e le sue applicazioni nel campo delle nano-ottiche. (È possibile partecipare a uno qualsiasi...

Lunedì 05 Giugno 2017

Siamo lieti di annunciare che saremo presenti al "3rd BOLOGNA SPM WORKSHOP - SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY FOR MINERAL, BIOLOGICAL AND MATERIAL SCIENCES", il 14 Luglio prossimo  a Bologna.
Il workshop si terrà al Dip.to di Scienze Biologiche, Geologiche e Ambientali presso l'...

Lunedì 08 Febbraio 2016
Nuove Mikromasch OPUS AFM - Optimized Positioning Upon Sample

La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.

...
Venerdì 08 Gennaio 2016
Buon Anno da CSI Instruments - Il Risveglio della Forza Atomica

CSI e Schaefer augurano a tutti i propri clienti e ai navigatori un buon 2016!

Per l'occasione CSI Instruments, produttore del microscopio AFM Nano-Observer, prendendo spunto dall'evento cinematografico di fine 2015, ha preparato un simpatico video con il...

Mercoledì 04 Marzo 2015
Microscopio STM/AFM Nano Observer - CSI Instruments

Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...

Lunedì 02 Febbraio 2015
PanScan Freedom-LT - RHK Technology

Tutti i vantaggi dell'LT, Nessuno dei limiti

PanScan Freedom permette una performance di imaging con bassissimo rumore (<1 pm), con il criostato in funzione. Anche ambienti rumorosi non compromettono le performance,...