15–17 settembre 2026 | Padova Congress, Padova, Italia
Schaefer SEE è lieta di partecipare in qualità di sponsor ed espositore a...
Scientific Equipmentpunte AFM
L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di punte AFM
Giovedì 10 Settembre 2026
Venerdì 19 Giugno 2026
Dal 25 al 30 giugno 2026, Schaefer Tec parteciperà a SELSIM 2026, la rinomata scuola e workshop internazionale sulla microscopia a sonda di scansione (SPM) che si terrà a Sondalo, in Italia. Insieme al nostro partner CS Instruments,...
Lunedì 04 Maggio 2026
Nel giorno dello Star Wars Day, CSInstruments raggiunge un traguardo importante: 20 anni all'avanguardia nella Microscopia a Forza Atomica. Per festeggiare, l'azienda ha lanciato una pagina anniversario speciale ricca di sorprese: un quiz a tema AFM per vincere gadget esclusivi...
Giovedì 16 Aprile 2026
Saremo presenti a Genova all'International Scanning Probe Microscopy Conference con il microscopio AFM NanoObserver II e il controller Galaxy Dual Controller. Stiamo organizzando demo presso i laboratori di ricerca nei giorni successivi all'evento. Contattaci!
Siamo lieti di annunciare...
Domenica 29 Marzo 2026
Schaefer SEE parteciperà a NANOSEA 2026, la 9ª Conferenza Internazionale su Nanostrutture e Nanomateriali Self-Assembly, che si terrà a Catania, Sicilia (Italia) dal 9 al 12 giugno 2026.
NANOSEA è uno dei più importanti forum europei dedicati alla scienza delle...
Martedì 17 Febbraio 2026
Schaefer parteciperà in qualità di sponsor ed espositore al Congresso CNR-IMM 2026 “BRIDGE – Boosting Research and Innovation for a Digital and Green Economy”, in...
Lunedì 06 Novembre 2023
Transizione energetica e sostenibilità ambientale: Materiali, processi e dispositivi per la ricerca e le applicazioni industriali
Schaefer parteciperà alla XXVI Conferenza dell'Associazione Italiana del Vuoto (AIV), che si terrà a Roma dal 7 al 10 novembre 2023. L'evento...
Mercoledì 08 Febbraio 2023
Registrati al webinar che ti guiderà nella selezione della sonda AFM ideale per la tua applicazione! Il 15 febbraio gli esperti di Asylum approfondiranno l'argomento, fornendo informazioni utili per gli utenti AFM, sia principianti che esperti.
Anche per un utente AFM...
Lunedì 16 Gennaio 2023
La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è una delle tecniche più potenti per la caratterizzazione su nanoscala di materiali piezoelettrici e ferroelettrici. Nonostante molti progressi lungo gli ultimi 30 anni, è comunque rimasto difficile effettuare...
Venerdì 18 Novembre 2022
Nuovo accessorio per il Jupiter XR AFM: nanoTDDB
Abstract
Nel campo della microelettronica, i dispositivi MOSFET (transistore a semiconduttore di ossido di metallo a effetto di campo) utilizzano materiali con strato (gate) ad alta costante dielettrica k, come il biossido di afnio (HfO₂) con una costante dielettrica...
Mercoledì 19 Ottobre 2022
Presentatore del webinar: Mathieu Cognard, product manager per le applicazioni SPM.
Relatore Digital Surf: Dalia Yablon, fondatrice di SurfaceChar LLC, esperta di caratterizzazione dei materiali e nanotecnologie
In questo webinar, Digital Surg...
Martedì 31 Maggio 2022
Saremo presenti all'ottava edizione del workshop organizzato da AIT presso il Polo di Meccatronica di Rovereto (TN).
Venite a trovarci da giovedì 30 giugno a venerdì 1 luglio, vi aspettiamo per presentarvi le novità dei nostri partner nel campo della scienza delle superfici, per...
Giovedì 05 Maggio 2022
Vorresti dare un primo sguardo in esclusiva alle nuove funzionalità in arrivo con Mountains® 9.2?
Quindi iscriviti al prossimo webinar online di DigitalSurf, nel quale Alexis ti guiderà attraverso i punti salienti dell'ultima versione del software più all'avanguadia...
Giovedì 25 Febbraio 2021
Nuova application note per la riparazione di fotomaschere. Un'ottima opportunità per constatare come le punte di Adama Innovations, realizzate con singolo cristallo di diamante, possono essere utili per questa specifica applicazione.
- Riparazione di difetti -...
Martedì 21 Luglio 2020
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...
Mercoledì 24 Giugno 2020
Argomenti chiave del webinar:
- Modalità AFM avanzate CSI – Misure elettriche
- Modalità HD-KFM mode: Concetto, vantaggi ed esempi
- La più avanzata modalità KFM single-pass (senza alzare la punta)
- Sensibilità e risoluzione...
Lunedì 11 Maggio 2020
Galaxy Dual AFM Controller
Con il ResiScope AFM mode e il Galaxy Dual Controller
Il Controller AFM Galaxy Dual può incorporare la modalità...
Venerdì 31 Gennaio 2020
Rocky Mountain Nanotechnology, LLC, è l'unica azienda che produce sonde AFM ultra affilate in platino e platino-iridio, per misurazioni elettriche ad alta risoluzione. Queste punte AFM possono essere utilizzate in varie modalità, tra cui tapping e contatto, e sono ideali per...
Mercoledì 30 Ottobre 2019
Schaefer è lieta di comunicare che sarà presente, con il partner Asylum-Oxford Instruments, all’evento "Science through Scanning Probe Microscopy 2019 - Extended Version" (StSPM19-EV), organizzato dalla società...
Giovedì 03 Ottobre 2019
Webinar Live: 16 ottobre 16:00 BST / 11:00 EDT / 08:00 PDT / 17:00 CEST
Gli strumenti di caratterizzazione odierni devono fornire informazioni su scale che arrivano a dimensioni micro o...
Martedì 20 Giugno 2017
La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in...
Lunedì 05 Giugno 2017
Siamo lieti di annunciare che saremo presenti al "3rd BOLOGNA SPM WORKSHOP - SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY FOR MINERAL, BIOLOGICAL AND MATERIAL SCIENCES", il 14 Luglio prossimo a Bologna.
Il workshop si terrà al Dip.to di Scienze Biologiche, Geologiche e Ambientali presso l'...
Lunedì 25 Luglio 2016
Dal 20 al 21 Ottobre 2016, presso il CNR - ISMN Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati a Bologna si terrà l'evento "Science through Scanning Probe Microscopy - StSPM'16". Si tratta di un workshop organizzato dalla Società Italiana Scienze Microscopiche (...
Mercoledì 22 Giugno 2016
Segui Euro 2016 con CSI e vinci!
Unisciti a CSI con le stesse passioni, per il calcio e l'AFM: prevedi i vincitori di Euro 2016, a partire dai Quarti di Finale fino alla Finale, e vinci i premi...
Martedì 31 Maggio 2016
Di seguito pubblichiamo un filmato ripreso da RHK qualche giorno fa con il Beetle UHV750 HV AFM. Questo sistema è funzionalizzato solamente da una pompa a turbina. Il campione è Silicio a 500°C, misurato in modalità AFM a contatto. Ogni immagine...
Martedì 05 Aprile 2016
Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2...
Lunedì 08 Febbraio 2016
La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.
...Venerdì 08 Gennaio 2016
CSI e Schaefer augurano a tutti i propri clienti e ai navigatori un buon 2016!
Per l'occasione CSI Instruments, produttore del microscopio AFM Nano-Observer, prendendo spunto dall'evento cinematografico di fine 2015, ha preparato un simpatico video con il...
Martedì 13 Gennaio 2015
Schaefer è lieta di offrire ai propri clienti una speciale promozione per provare le punte AFM NaDia Probes della Advanced Diamond Technologies, costruite interamente in diamante. Queste punte possono vantare caratteristiche che le rendono...