CS Instruments e Schaefer SEE organizzano un demo tour in Italia per presentare il Galaxy Dual per Multimode e il nuovo AFM Nano-Observer II.
Regalate una seconda vita al vostro AFM: il Galaxy Dual Controller rinnova e migliora le...
accessori AFM
L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di accessori AFM
Registrati al webinar che ti guiderà nella selezione della sonda AFM ideale per la tua applicazione! Il 15 febbraio gli esperti di Asylum approfondiranno l'argomento, fornendo informazioni utili per gli utenti AFM, sia principianti che esperti.
Anche per un utente AFM...
La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è una delle tecniche più potenti per la caratterizzazione su nanoscala di materiali piezoelettrici e ferroelettrici. Nonostante molti progressi lungo gli ultimi 30 anni, è comunque rimasto difficile effettuare...
Abstract
Nel campo della microelettronica, i dispositivi MOSFET (transistore a semiconduttore di ossido di metallo a effetto di campo) utilizzano materiali con strato (gate) ad alta costante dielettrica k, come il biossido di afnio (HfO₂) con una costante dielettrica...
Presentatore del webinar: Mathieu Cognard, product manager per le applicazioni SPM.
Relatore Digital Surf: Dalia Yablon, fondatrice di SurfaceChar LLC, esperta di caratterizzazione dei materiali e nanotecnologie
In questo webinar, Digital Surg...
Saremo presenti all'ottava edizione del workshop organizzato da AIT presso il Polo di Meccatronica di Rovereto (TN).
Venite a trovarci da giovedì 30 giugno a venerdì 1 luglio, vi aspettiamo per presentarvi le novità dei nostri partner nel campo della scienza delle superfici, per...
Vorresti dare un primo sguardo in esclusiva alle nuove funzionalità in arrivo con Mountains® 9.2?
Quindi iscriviti al prossimo webinar online di DigitalSurf, nel quale Alexis ti guiderà attraverso i punti salienti dell'ultima versione del software più all'avanguadia...
Nuova application note per la riparazione di fotomaschere. Un'ottima opportunità per constatare come le punte di Adama Innovations, realizzate con singolo cristallo di diamante, possono essere utili per questa specifica applicazione.
- Riparazione di difetti -...
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...
Argomenti chiave del webinar:
- Modalità AFM avanzate CSI – Misure elettriche
- Modalità HD-KFM mode: Concetto, vantaggi ed esempi
- La più avanzata modalità KFM single-pass (senza alzare la punta)
- Sensibilità e risoluzione...
Con il ResiScope AFM mode e il Galaxy Dual Controller
Il Controller AFM Galaxy Dual può incorporare la modalità...
Rocky Mountain Nanotechnology, LLC, è l'unica azienda che produce sonde AFM ultra affilate in platino e platino-iridio, per misurazioni elettriche ad alta risoluzione. Queste punte AFM possono essere utilizzate in varie modalità, tra cui tapping e contatto, e sono ideali per...
Schaefer è lieta di comunicare che sarà presente, con il partner Asylum-Oxford Instruments, all’evento "Science through Scanning Probe Microscopy 2019 - Extended Version" (StSPM19-EV), organizzato dalla società...
I nuovi substrati:
- C - Substrato senza il pad d'oro di adesione, per ridurre la capacità parassita (= alle dimensioni del substrato A)
- D - Substrato con una linea di trasmissione in oro di 200um per l'intera lunghezza del chip; il retro è completamente rivestito d'oro (chip...
La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in...
Siamo lieti di annunciare che saremo presenti al "3rd BOLOGNA SPM WORKSHOP - SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY FOR MINERAL, BIOLOGICAL AND MATERIAL SCIENCES", il 14 Luglio prossimo a Bologna.
Il workshop si terrà al Dip.to di Scienze Biologiche, Geologiche e Ambientali presso l'...
Dal 20 al 21 Ottobre 2016, presso il CNR - ISMN Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati a Bologna si terrà l'evento "Science through Scanning Probe Microscopy - StSPM'16". Si tratta di un workshop organizzato dalla Società Italiana Scienze Microscopiche (...
Segui Euro 2016 con CSI e vinci!
Unisciti a CSI con le stesse passioni, per il calcio e l'AFM: prevedi i vincitori di Euro 2016, a partire dai Quarti di Finale fino alla Finale, e vinci i premi...
La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.
...Un nuovo video su YouTube illustra nei minimi dettagli il funzionamento del microscopio AFM Nano-Observer, prodotto da CSI Instruments. Ora lo strumento si rivela ancor più facile da utilizzare, grazie al controllo touch-screen. disponibile per pc,...
Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...
Schaefer è lieta di offrire ai propri clienti una speciale promozione per provare le punte AFM NaDia Probes della Advanced Diamond Technologies, costruite interamente in diamante. Queste punte possono vantare caratteristiche che le rendono...