L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di MEMS
Modena, 5-6 giugno 2025
Schaefer Italia è lieta di partecipare al 4° Workshop organizzato dall’Istituto Nanoscienze del CNR, un appuntamento di riferimento per la comunità scientifica italiana attiva nel campo della nanoscienza e della nanotecnologia.
Durante l’...
Mentre l’industria dei semiconduttori continua a spingere i limiti delle prestazioni dei dispositivi e della miniaturizzazione, la metrologia 3D rimane essenziale per ottenere una resa costante, una qualità affidabile e tempi di immissione sul mercato più rapidi...
Saremo presenti alla 35ª edizione di Eurosensors, la rinomata conferenza internazionale dedicata alla ricerca teorica e applicata nel campo dei sensori e dei micro-nanosistemi. L'evento, che avrà luogo dal 10 al 13 settembre, rappresenterà l'occasione...
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...
Il valore di attrito superficiale estremamente basso del grafene e di altri materiali 2D offre interessanti possibilità di utilizzo degli stessi in qualità di lubrificanti nano-sottili per applicazioni su dispositivi MEMS e NEMS di prossima generazione. La possibilità di controllare attivamente...
Nenovision ha portato l'analisi e la caratterizzazione di grafene e materiale 2D a un livello superiore.
Questo nuovo video mostra come viene effettuata l'analisi di materiali 2D con l'AFM-in-SEM LiteScope di Nenovision!
il...
Dal 6 al 10 Giugno 2016 Schaefer organizza un roadshow attraverso l'Italia per promuovere lo strumento DHM-R della Lyncèe Tec, un microscopio Olografico Digitale, per l’acquisizione 3D in tempo reale con risoluzione nanometrica. Lo strumento in demo sarà corredato anche di un add-on per la...
