Schaefer parteciperà in qualità di sponsor ed espositore al Congresso CNR-IMM 2026 “BRIDGE – Boosting Research and Innovation for a Digital and Green Economy”, in...
Scientific EquipmentMEMS
L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di MEMS
Martedì 17 Febbraio 2026
Venerdì 23 Maggio 2025
Schaefer Italia al 4° Workshop del CNR Nanoscienze con soluzioni per Analisi di superfici, SPM e SEM
Modena, 5-6 giugno 2025
Schaefer Italia è lieta di partecipare al 4° Workshop organizzato dall’Istituto Nanoscienze del CNR, un appuntamento di riferimento per la comunità scientifica italiana attiva nel campo della nanoscienza e della nanotecnologia.
Durante l’...
Venerdì 16 Maggio 2025
Mentre l’industria dei semiconduttori continua a spingere i limiti delle prestazioni dei dispositivi e della miniaturizzazione, la metrologia 3D rimane essenziale per ottenere una resa costante, una qualità affidabile e tempi di immissione sul mercato più rapidi...
Lunedì 28 Agosto 2023
Saremo presenti alla 35ª edizione di Eurosensors, la rinomata conferenza internazionale dedicata alla ricerca teorica e applicata nel campo dei sensori e dei micro-nanosistemi. L'evento, che avrà luogo dal 10 al 13 settembre, rappresenterà l'occasione...
Lunedì 06 Giugno 2022
Analisi full-field della forma sottoposta a vibrazione e del transitorio
- AnalizzatoreMEMS Non-Scanning
- Mappe di vibrazione con milioni di punti dati
- Risoluzione picometrica della vibrazione
- In- and out-...
Martedì 21 Luglio 2020
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...
Lunedì 18 Novembre 2019
Il valore di attrito superficiale estremamente basso del grafene e di altri materiali 2D offre interessanti possibilità di utilizzo degli stessi in qualità di lubrificanti nano-sottili per applicazioni su dispositivi MEMS e NEMS di prossima generazione. La possibilità di controllare attivamente...
Martedì 02 Aprile 2019
Nenovision ha portato l'analisi e la caratterizzazione di grafene e materiale 2D a un livello superiore.
Questo nuovo video mostra come viene effettuata l'analisi di materiali 2D con l'AFM-in-SEM LiteScope di Nenovision!
il...
Mercoledì 11 Maggio 2016
Dal 6 al 10 Giugno 2016 Schaefer organizza un roadshow attraverso l'Italia per promuovere lo strumento DHM-R della Lyncèe Tec, un microscopio Olografico Digitale, per l’acquisizione 3D in tempo reale con risoluzione nanometrica. Lo strumento in demo sarà corredato anche di un add-on per la...