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Schaefer sponsor del Congresso CNR-IMM 2026 “BRIDGE” – Catania, 18-19 Febbraio 2026
Evento/Congresso/Workshop
da Mercoledì 18 Febbraio 2026 - 13:30 a Giovedì 19 Febbraio 2026 - 17:00
Schaefer parteciperà in qualità di sponsor ed espositore al Congresso CNR-IMM 2026 “BRIDGE – Boosting Research and Innovation for a Digital and Green Economy”, in programma il 18 e 19 febbraio 2026 presso il Dipartimento di Fisica dell’Università di Catania.
L’evento, organizzato dall’CNR-IMM (Istituto per la Microelettronica e Microsistemi del Consiglio Nazionale delle Ricerche), rappresenta un momento chiave di confronto tra ricerca, innovazione e industria nei settori dei materiali avanzati, micro e nanoelettronica, energia sostenibile, tecnologie quantistiche e dispositivi ad alte prestazioni.
Il programma scientifico del congresso affronta tematiche centrali quali:
Materiali 2D e semiconduttori wide band gap
Metodi avanzati di caratterizzazione
Tecnologie per energia, sensing e life science
Dispositivi innovativi per computing e quantum technologies
Elettronica ad alta potenza e large area
In questo contesto, Schaefer Tecnologie offreuna gamma completa di soluzioni per deposizione, analisi e caratterizzazione delle superfici, a supporto di laboratori di ricerca, università e industria high-tech.
Sistemi UHV per ricerca e deposizione – PREVAC
Promuoviamo in particolare i sistemi in Ultra High Vacuum (UHV) di PREVAC, ideali per:
Crescita e deposizione di film sottili
Studio di materiali 2D e semiconduttori avanzati
Analisi di superfici in condizioni controllate
Integrazione con tecniche di caratterizzazione in-situ
Le soluzioni PREVAC garantiscono modularità, elevata stabilità e massima personalizzazione, rispondendo alle esigenze della ricerca nel campo della micro- e nano-elettronica.
SEM da banco compatto e performante – NANOS di Semplor
Portiamo al congresso anche NANOS, il SEM da banco di Semplor:
Compatto e facile da installare
Alta risoluzione per analisi morfologiche
Ideale per laboratori universitari, R&D e controllo qualità
Soluzione accessibile senza rinunciare a performance professionali
Uno strumento perfetto per l’analisi di microstrutture, difetti, morfologia superficiale e failure analysis.
Profilometria ottica e analisi 3D delle superfici – GBS e Sensofar
Per la caratterizzazione avanzata delle superfici proponiamo i profilometri ottici GBS e Sensofar, soluzioni di riferimento per:
Misura della rugosità (Ra, Rq, ecc.)
Analisi della morfologia 3D
Misure non a contatto
Studio di rivestimenti, film sottili e microstrutture
Queste tecnologie sono fondamentali nei settori:
Microelettronica e semiconduttori
Fotovoltaico e dispositivi per energia
Materiali funzionali e coating avanzati
Biomedicale e life science
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